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Gate-Treiberschaltung für ein Leistungshalbleiter-Schaltelement (32, 37), mit einer Treiberschaltung (21) zum Zuführen eines Ansteuersignals zu einem Gate-Anschluss des Leistungshalbleiter-Schaltelements in Bezug auf einen Emitter-Steueranschluss oder einen Source-Steueranschluss des Leistungshalbleiter-Schaltelements und einer Einheit (11) zum Erfassen einer Temperatur des Leistungshalbleiter-Schaltelements, wobei zum An- und Ausschalten des Leistungshalbleiter-Schaltelements dem Gate-Anschluss des Leistungshalbleiter-Schaltelements ein pulsbreitenmoduliertes Ansteuersignal zuführbar ist, und das Leistungshalbleiter-Schaltelement mit einer Gate-Ansteuerspannung oder über einen Gate-Widerstand angesteuert wird, die bzw. der auf der Grundlage der von der Temperaturerfassungseinheit erfassten Temperatur geändert wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Temperaturerfassungseinheit (11) eine Diode (15) zwischen dem Emitter-Steueranschluss oder dem Source-Steueranschluss des Leistungshalbleiter-Schaltelements und dem Gate-Anschluss des Leistungshalbleiter-Schaltelements aufweist, wobei die Temperatur des Leistungshalbleiter-Schaltelements auf der Grundlage eines Vorwärtsspannungsabfalls der Diode erfasst wird, und wobei die Gate-Treiberschaltung dazu ausgelegt ist, den Vorwärtsspannungsabfall der Diode während einer Ausschaltzeit des Leistungshalbleiter-Schaltelements zu erfassen.
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