发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung der Intensität eines Elektronenstrahles
摘要 Verfahren zur Überwachung der Intensität eines, während seiner Ausbreitung ein Plasma erzeugenden Elektronenstrahls, wobei zur Erkennung von Änderungen der Intensität des Elektronenstrahles eine direkt oder indirekt vom Elektronenstrahl erzeugte Elektronenstrahlung oder elektromagnetische Strahlung detektiert und ausgewertet wird und wobei ein zur messtechnischen Erfassung einer direkt oder indirekt vom Elektronenstrahl erzeugten Elektronenstrahlung oder elektromagnetischen Strahlung ausgebildeter Detektor vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor durch die Wandung eines transparenten oder durchscheinenden Packstoffes auf das Plasma schaut.
申请公布号 DE102009018210(B4) 申请公布日期 2013.01.17
申请号 DE200910018210 申请日期 2009.04.21
申请人 KHS GMBH 发明人 KEIL, GERNOT, DR.;MONZEL, ALOIS
分类号 G01T1/16;A61L2/08 主分类号 G01T1/16
代理机构 代理人
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