| 主权项 |
1.一种发光元件的量测装置，适用于量测一发光晶片的光学特性，该量测装置包含：一第一光接收器，是对应于该发光晶片的发光路径，并可输出一随着光线强弱而变化的第一检知信号；一第二光接收器，是对应于该发光晶片的发光路径，并可输出一随着光线之光学特性而变化的第二检知信号；一光衰减单元，包括一设置于该发光晶片之发光路径与该第二光接收器之间的光衰减模组，及一驱动该光衰减模组产生光衰减变化的驱动元件；及一控制单元，是接收该第一检知信号并电连接于该驱动元件，该控制单元是配合该第一检知信号的变化而经由该驱动元件来调整该光衰减模组的光衰减量。2.依据申请专利范围第1项所述的发光元件的量测装置，还包含一积分球，该积分球是对应于该发光晶片的发光路径，该第一光接收器是采用一对应于该积分球之输出光的光量分析器，该第二光接收器是采用一光性分析器，该量测装置还包含一连接于该第二光接收器的光纤接头，该光纤接头是对应于该积分球的输出光。3.依据申请专利范围第1项所述的发光元件的量测装置，其中，该光衰减单元的光衰减模组具有一转盘、一设置于该转盘上的第一偏光片，及一对应于该第一偏光片的第二偏光片，该转盘是连接于该驱动元件。4.依据申请专利范围第3项所述的发光元件的量测装置，其中，该光衰减模组还具有一设置于该转盘边缘的定位元件，及二分别沿着该转盘边缘设置于该定位元件左、右两侧的检知器，该定位元件可随着该转盘的连动而触发该等检知器的其中一者。5.依据申请专利范围第4项所述的发光元件的量测装置，还包含一本体，该本体是对应于该发光晶片的发光路径，该第一光接收器、该第二偏光片、该等检知器是设置于该本体上。6.依据申请专利范围第4项所述的发光元件的量测装置，其中，该第二检知信号的内容还包含一随着光线强弱而变化的光强度资讯，该控制单元是配合该第二检知信号的变化而经由该驱动元件来调整该光衰减模组的光衰减量。图式简单说明：图1是一示意图，说明一般用于量测一发光晶片的一量测装置；图2是一示意图，说明本新型发光元件的量测装置的较佳实施例；及图3是一示意图，说明上述较佳实施例中，一转盘、一定位元件，及二检知器的配置关系。 |
