| 主权项 |
一种漏检情况下的产品测试性指标获取方法，其特征在于包括以下步骤：第一步 收集产品相关的测试性设计资料，方法是：1.1收集产品固有测试性设计资料；1.2收集产品FMECA资料和产品可靠性数据，列出产品故障模式集F＝{f<sub>1</sub>，f<sub>2</sub>，…，f<sub>m</sub>}，掌握故障影响情况和故障率数据λ＝{λ<sub>1</sub>，λ<sub>2</sub>，…，λ<sub>m</sub>}；1.3收集测试方法和原理、测试选择结果信息，获得产品的测试集T＝{t<sub>1</sub>，t<sub>2</sub>，…，t<sub>n</sub>}；第二步 获取产品测试性指标，方法是：2.1根据测试与故障模式之间的观测与被观测关系，利用可达性算法计算产品故障‑测试相关性矩阵FT＝(ft<sub>ij</sub>)<sub>m×n</sub>，FT的维数为m×n维，且其元素由ft<sub>ij</sub>来表示，其中：<img file="FWW0000000067570000011.GIF" wi="1097" he="160" />其中，m为产品故障数目，n为产品测试数目，f<sub>i</sub>表示产品第i个故障，t<sub>j</sub>表示产品第j个测试；2.2计算漏检情况下的故障‑测试相关性矩阵，方法是：2.2.1采用贝叶斯小子样方法和最小最大方法计算测试t<sub>j</sub>的两个不确定参数pd<sub>ij</sub>和pfa<sub>j</sub>，其中pd<sub>ij</sub>表示t<sub>j</sub>对f<sub>i</sub>的检测概率，放入不确定参数集合PDS，pfa<sub>j</sub>表示t<sub>j</sub>的虚警概率，放入不确定参数集合PFS，pd<sub>ij</sub>和pfa<sub>j</sub>分别表示如下：<maths id="cmaths0001" num="0001"><math><![CDATA[<mrow><msub><mi>pd</mi><mrow><mi>i</mi><mi>j</mi></mrow></msub><mo>=</mo><mi>P</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>t</mi><mrow><mi>j</mi><mi>f</mi></mrow></msub><mo>|</mo><msub><mi>f</mi><mi>i</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>,</mo><mo>∀</mo><msub><mi>f</mi><mi>i</mi></msub><mo>∈</mo><mi>T</mi><mi>S</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>t</mi><mi>j</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>,</mo><msub><mi>pfa</mi><mi>j</mi></msub><mo>=</mo><mi>P</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>t</mi><mrow><mi>j</mi><mi>f</mi></mrow></msub><mo>|</mo><msub><mi>f</mi><mi>k</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>,</mo><mo>∀</mo><msub><mi>f</mi><mi>k</mi></msub><mo>∈</mo><mover><mrow><mi>T</mi><mi>S</mi></mrow><mo>‾</mo></mover><mrow><mo>(</mo><msub><mi>t</mi><mi>j</mi></msub><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math><img file="FWW0000000067570000012.GIF" wi="1248" he="73" /></maths>式中，TS(t<sub>j</sub>)表示测试t<sub>j</sub>能够检测到的故障所构成的集合，<img file="FWW0000000067570000013.GIF" wi="131" he="73" />为测试<math><![CDATA[<mrow><msub><mi>F</mi><mi>I</mi></msub><mo>=</mo><mo>{</mo><msub><mi>f</mi><mi>i</mi></msub><mi>|</mi><msub><mi>f</mi><mi>i</mi></msub><mo>∈</mo><mi>F</mi><mo>,</mo><munder><mi>Σ</mi><mrow><msub><mi>f</mi><mi>j</mi></msub><mo>∈</mo><mi>F</mi></mrow></munder><msub><mi>T</mi><mrow><mi>f</mi><mi>i</mi></mrow></msub><mo>⊗</mo><msub><mi>T</mi><mrow><mi>f</mi><mi>j</mi></mrow></msub><mo>≤</mo><mi>L</mi><mo>,</mo><mo>∀</mo><msub><mi>f</mi><mi>j</mi></msub><mo>∈</mo><mi>F</mi><mo>}</mo><mo>⊆</mo><mi>F</mi></mrow>]]></math><img file="FWW0000000067570000024.GIF" wi="941" he="164" /></maths>其中，T<sub>fi</sub>＝{t<sub>u</sub>|f<sub>iu</sub>＝1，u＝1，2，…，n}为能检测故障f<sub>i</sub>的所有测试组成的集合，T<sub>fj</sub>＝{t<sub>v</sub>|f<sub>jv</sub>＝1，v＝1，2，…，n}为能检测故障f<sub>j</sub>的所有测试组成的集合，符号<img file="FWW0000000067570000025.GIF" wi="120" he="51" />表示当集合T<sub>fi</sub>和T<sub>fj</sub>相同时，<img file="FWW0000000067570000026.GIF" wi="247" he="59" />即表示故障f<sub>i</sub>和故障f<sub>j</sub>位于同一模糊组，L为事先给定故障隔离模糊度；2.4.2在集合F<sub>I</sub>中，对于任意一个故障f<sub>i</sub>，在矩阵FTP的基础上，通过pb pnum="2" />贝叶斯推理方法计算<img file="FWW0000000067570000031.GIF" wi="526" he="106" />PI<sub>i</sub>表示故障f<sub>i</sub>在测试集T条件下能被隔离的概率；2.4.3令F<sub>I</sub>＝F<sub>I</sub>/{f<sub>i</sub>}，“/”表示两个集合相减；并进行判断，如果F<sub>I</sub>不为空，则执行2.4.2；否则执行2.4.4；2.4.4计算故障隔离率<img file="FWW0000000067570000032.GIF" wi="592" he="230" />第三步判断，如果故障检测率γ<sub>FD</sub>满足设计要求，则执行第四步；如果不满足要求，则从集合PDS中选择最小的pd<sub>ij</sub>所对应的测试t<sub>j</sub>，进行改进设计，增大pd<sub>ij</sub>的数值大小，并转入第一步；第四步判断，如果故障隔离率γ<sub>FI</sub>满足设计要求，则结束；如果不满足要求，则为产品增加测试，使之能够隔离集合F/F<sub>I</sub>中的故障，并转入第一步。pb pnum="3" /> |
