发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur Reduzierung von Streustrahlung bei Spektrometern mittels Abdeckung
摘要 Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Messen eines Spektrums einer von einer Lichtquelle emittierten zur analysiervon einem Eintrittspalts (5) entlang einer Achse (A) mittels eines Beugungsgitters (3) auf einem Empfängerbereich (1) umgelenkt und hinsichtlich des Spektrums aufgeteilt. Zur wirksamen Reduzierung von Streustrahlung wird vorgeschlagen, eine Abdeckung (7) für einen Randbereich (3a) eines Beugungsgitters (3) zur Vermeidung von Streustrahlung absorbierend und von dem Empfängerbereich (1) wegreflektierend bereitzustellen.
申请公布号 DE102011078755(A1) 申请公布日期 2013.01.10
申请号 DE201110078755 申请日期 2011.07.06
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 GERHARD, DETLEF;GERGEN, WERNER;WEBER, MARTIN
分类号 G01J3/02;G01J3/18 主分类号 G01J3/02
代理机构 代理人
主权项
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