一种硅太阳能组件的电势诱导衰减测试方法

摘要

一种硅太阳能组件的电势诱导衰减测试方法，它涉及太阳能组件测试技术领域，它的测试方法为：准备3块同种规格的组件，随机抽取1块作为控制件，另外2块作为待测组件；首先将组件进行一定强度的日光照曝晒预处理，预处理结束之后进行初测，包括组件的外观、绝缘性能、电性能、EL测试和湿漏电流测试；试验过程中，记录漏电流数值，试验结束之后，将组件取出恢复一段时间后进行绝缘性能、EL测试、湿漏电和电性能测试。它用来评估太阳能组件承受系统偏压的能力，在合理的成本和时间内，测试太阳能组件承受系统电压、湿度、温度等各种环境因素能力，对减少和预防PID现象等具有指导意义。

主权项

一种硅太阳能组件的电势诱导衰减测试方法，其特征在于它的测试组件是由铝箔(1)、水膜(2)、玻璃(3)、铝框(4)、太阳能电池板(5)、EVA(6)和TPT(7)组成，玻璃(3)、EVA(6)和TPT(7)依次叠放，且玻璃(3)、EVA(6)和TPT(7)的两端设置有铝框(4)，玻璃(3)与EVA(6)之间设置有太阳能电池板(5)，玻璃(3)上端的铝框(4)之间设置有铝箔(1)、水膜(2)，且铝箔(1)设置在水膜(2)上；测试组件设置在恒温恒湿箱(8)内。