发明名称 一种二硫化钼纳米片薄膜材料及其制备方法
摘要 本发明公开了一种二硫化钼纳米片薄膜材料及其制备方法,该薄膜材料是MoS2纳米片竖立有序地生长在导电基底上,MoS2纳米片的直径为0.05-2μm,纳米片的厚度为2-30nm。其制备方法有两种,一种是以铜片、银片、钛片、钨片、钼片和碳为基底,将基底置于钼酸盐在含硫化合物(包括硫脲,硫代乙酰胺,L-半胱氨酸)溶液中进行水热反应,在基底上生长致密、均匀有序的MoS2纳米片状薄膜。另一种方法是将钼片直接置入含硫化合物(包括硫脲,硫代乙酰胺,L-半胱氨酸)溶液中,在水热条件下发生硫化反应,在钼基底上形成致密均匀的MoS2纳米片有序薄膜。该薄膜具有较低的析氢过电位(-30mv),塔菲尔斜率小(52mV/dec),有较高的电化学稳定性,是一种极具应用前景的析氢电极材料。
申请公布号 CN102849798A 申请公布日期 2013.01.02
申请号 CN201210311761.X 申请日期 2012.08.29
申请人 北京化工大学 发明人 孙晓明;陆之毅;于晓游;朱炜
分类号 C01G39/06(2006.01)I;B82Y30/00(2011.01)I;H01B13/00(2006.01)I 主分类号 C01G39/06(2006.01)I
代理机构 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人 何俊玲
主权项 一种二硫化钼纳米片薄膜材料,是MoS2纳米片竖立有序地生长在基底上,MoS2纳米片的直径为0.05‑2μm,纳米片的厚度为2‑30 nm。
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