发明名称 |
一种二硫化钼纳米片薄膜材料及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开了一种二硫化钼纳米片薄膜材料及其制备方法,该薄膜材料是MoS2纳米片竖立有序地生长在导电基底上,MoS2纳米片的直径为0.05-2μm,纳米片的厚度为2-30nm。其制备方法有两种,一种是以铜片、银片、钛片、钨片、钼片和碳为基底,将基底置于钼酸盐在含硫化合物(包括硫脲,硫代乙酰胺,L-半胱氨酸)溶液中进行水热反应,在基底上生长致密、均匀有序的MoS2纳米片状薄膜。另一种方法是将钼片直接置入含硫化合物(包括硫脲,硫代乙酰胺,L-半胱氨酸)溶液中,在水热条件下发生硫化反应,在钼基底上形成致密均匀的MoS2纳米片有序薄膜。该薄膜具有较低的析氢过电位(-30mv),塔菲尔斜率小(52mV/dec),有较高的电化学稳定性,是一种极具应用前景的析氢电极材料。 |
申请公布号 |
CN102849798A |
申请公布日期 |
2013.01.02 |
申请号 |
CN201210311761.X |
申请日期 |
2012.08.29 |
申请人 |
北京化工大学 |
发明人 |
孙晓明;陆之毅;于晓游;朱炜 |
分类号 |
C01G39/06(2006.01)I;B82Y30/00(2011.01)I;H01B13/00(2006.01)I |
主分类号 |
C01G39/06(2006.01)I |
代理机构 |
北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 |
代理人 |
何俊玲 |
主权项 |
一种二硫化钼纳米片薄膜材料,是MoS2纳米片竖立有序地生长在基底上,MoS2纳米片的直径为0.05‑2μm,纳米片的厚度为2‑30 nm。 |
地址 |
100029 北京市朝阳区北三环东路15号 |