发明名称 用于表示检查对象的辐射暴露的方法和相应的成像装置
摘要 本发明描述了一种用于表示(40)检查对象(31)的检查区域(30)的通过放射成像引起的或可引起的辐射暴露的方法(1),包括以下方法步骤:S1)获取检查对象(31)的检查区域(30)的3D图像(49);S2)确定检查区域(30)的吸收系数;S3)确定检查区域(30)的通过放射成像引起的或可引起的辐射暴露;S4)在检查对象(31)的检查区域(30)的3D图像(49)中表示检查区域(30)的辐射暴露;S5)查询中断标准并且如果不满足中断标准则跳到方法步骤S3。此外,本发明还描述了一种适合于执行这样的方法的放射成像装置。
申请公布号 CN102846334A 申请公布日期 2013.01.02
申请号 CN201210227922.7 申请日期 2012.07.02
申请人 西门子公司 发明人 S.劳滕施莱格;M.弗劳姆
分类号 A61B6/03(2006.01)I;H05G1/30(2006.01)I 主分类号 A61B6/03(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 谢强
主权项 一种用于表示(40)检查对象(31)的检查区域(30)的通过放射成像引起的或可引起的辐射暴露的方法(1),包括以下方法步骤:S1)获取所述检查对象(31)的检查区域(30)的3D图像(49);S2)确定所述检查区域(30)的吸收系数;S3)确定所述检查区域(30)的通过放射成像引起的或可引起的辐射暴露;S4)在所述检查对象(31)的检查区域(30)的3D图像(49)中表示该检查区域(30)的辐射暴露;S5)查询中断标准,并且如果不满足中断标准则跳到方法步骤S3。
地址 德国慕尼黑