| 摘要 |
<p>본 발명은 칩형 전자부품을 회전원반 등으로 반송하고, 그 전기적 특성을 검사하여 분류하는 칩형 전자부품 특성검사 분류장치를 제공한다. 본 발명에 따른 칩형 전자부품(30)의 전기특성을 검사하고 상기 검사 결과에 따라 칩형 전자부품(30)을 분류하는 장치의 검사용 접촉자의 상기 칩형 전자부품의 단면전극(31)과 접촉하는 부분의 재질을 팔라듐, 은, 백금과 금을 베이스로 하는 합금으로 한다. 상기 칩형 전자부품의 단면전극과 접촉하는 부분의 형상은 예를 들어, 가는 와이어를 복수개 묶은 브러시 형상으로 한다.</p> |
