用于横波探伤的斜探头和横波探伤方法

摘要

本发明公开了一种用于横波探伤的斜探头和一种横波探伤方法，该斜探头包括具有开口的壳体（60）、晶片（10）和保护层（20），所述晶片设置在所述壳体内部，所述保护层设置在所述壳体的所述开口处与所述壳体固定连接，并将所述壳体封闭，所述保护层的一个端面与所述晶片贴合，另一个端面用于与待测物体相贴合，其中，所述保护层的所述另一个端面的形状与所述待测物体的表面形状相匹配。利用本发明提供的斜探头进行横波探伤时，斜探头的保护层表面能够与待测物体贴合，使得绝大部分晶片产生的超声波都能够通过保护层穿入到待测物体内部，从而提高了所述斜探头在横波探伤时发现缺陷的能力。

主权项

一种用于横波探伤的斜探头，该斜探头包括具有开口的壳体（60）、晶片（10）和保护层（20），所述晶片（10）设置在所述壳体（60）内部，所述保护层（20）设置在所述壳体（60）的所述开口处与所述壳体（60）固定连接，并将所述壳体（60）封闭，所述保护层（20）的一个端面与所述晶片（10）贴合，另一个端面用于与待测物体相贴合，其特征在于，所述保护层（20）的所述另一个端面的形状与所述待测物体的表面形状相匹配。