发明名称 | 误差消除电路、方法以及占空比检测电路 | ||
摘要 | 本发明实施例公开了一种误差消除电路、方法以及占空比检测电路,误差消除电路包括:补偿移相模块以及计数控制模块;量化信号作用于所述补偿移相模块的一输入端,采样信号作用于所述补偿移相模块的另一输入端,所述补偿移相模块的输出端与所述计数控制模块的输入端相连。采用本发明实施例提供的误差消除电路,得到的平均占空比的误差仅仅在于最后一个量化高电平或最后一个采样信号,从而大大降低了误差。 | ||
申请公布号 | CN102832913A | 申请公布日期 | 2012.12.19 |
申请号 | CN201210299880.8 | 申请日期 | 2012.08.21 |
申请人 | 上海新进半导体制造有限公司 | 发明人 | 罗东旭;宗强;方绍华 |
分类号 | H03K5/19(2006.01)I | 主分类号 | H03K5/19(2006.01)I |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 王宝筠 |
主权项 | 一种误差消除电路,其特征在于,包括:补偿移相模块以及计数控制模块;量化信号作用于所述补偿移相模块的一输入端,采样信号作用于所述补偿移相模块的另一输入端,所述补偿移相模块的输出端与所述计数控制模块的输入端相连;所述补偿移相模块依次将当前量化高电平集合中的各个量化高电平进行移相,以使各个移相后的量化高电平的上升沿与采样信号的上升沿同步,且各个移相后的量化高电平的长度为采样信号周期的整数倍,所述当前量化高电平集合包括至少一个量化高电平,并在所述各个移相后的量化高电平期间控制所述计数控制模块,以使计数模块记录采样信号的个数,确定所述每一移相后的量化高电平的长度与未移相时对应的量化高电平长度的差值作为所述量化高电平的误差时长,将所述当前量化高电平集合中各个量化高电平的误差时长之和称为所述当前量化高电平的误差时长,当距离所述当前量化高电平集合时间最近的量化高电平到来时,将所述最近的量化高电平对所述当前量化高电平的误差时长进行补偿,并将下一量化高电平集合作为当前量化高电平集合,所述最近的量化高电平属于所述下一量化高电平集合。 | ||
地址 | 200233 上海市徐汇区宜山路800号 |