发明名称 |
隐形眼镜中的缺陷的检验 |
摘要 |
本发明提供用于检验透明和印刷隐形眼镜的一种方法和系统。通过同时使用明场照明和低角度暗场照明照射隐形眼镜来检验隐形眼镜,照射时隐形眼镜安置在位于阳模与阴模之间的腔中。此外,成像光学系统接收从隐形眼镜透出的光,而相机使用由成像光学系统接收的光来捕获隐形眼镜的图像。此外,数据处理系统配置成:对图像中的在亮度的动态范围的第一部分中的暗缺陷进行识别,并对图像中的在亮度的动态范围的第二部分中的亮缺陷进行识别。 |
申请公布号 |
CN102834704A |
申请公布日期 |
2012.12.19 |
申请号 |
CN201180007728.1 |
申请日期 |
2011.02.23 |
申请人 |
联达科技检测私人有限公司 |
发明人 |
维克多·费多普拉柯夫;黄循威;任长坡 |
分类号 |
G01M11/00(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;G02C7/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
雷绍宁 |
主权项 |
一种用于检验隐形眼镜的方法,所述方法包含:同时使用明场照明和暗场照明来照射所述隐形眼镜;使用从所述隐形眼镜接收的光来捕获所述隐形眼镜的图像;以及处理所述图像,从而识别所述隐形眼镜中的一个或多个缺陷的存在。 |
地址 |
新加坡新加坡市 |