发明名称 | 一种OLED基板的测试方法和装置 | ||
摘要 | 本发明实施例提供了一种OLED基板的测试装置和测试方法,能够缩短该OLED基板的测试周期,降低测试成本。该装置包括信号加载基板和信号源;所述信号加载基板包括:信号线接入模块,用于分别与所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线相连接;测试信号接入模块,用于与外部信号源相连接,通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号;所述信号源,用于与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接,通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。本发明实施例适用于OLED基板的制造领域。 | ||
申请公布号 | CN102831851A | 申请公布日期 | 2012.12.19 |
申请号 | CN201210331650.5 | 申请日期 | 2012.09.07 |
申请人 | 京东方科技集团股份有限公司 | 发明人 | 梁逸南 |
分类号 | G09G3/00(2006.01)I | 主分类号 | G09G3/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人 | 申健 |
主权项 | 一种OLED基板的测试装置,其特征在于,包括信号加载基板和信号源;所述信号加载基板包括:信号线接入模块,用于分别与所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线相连接;测试信号接入模块,用于与外部信号源相连接,通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号;所述信号源,用于与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接,通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。 | ||
地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |