Semiconductor Apparatus and Method for testing there of
摘要
<p>본 발명의 반도체 장치는 클럭 신호 및 호출 신호에 응답하여 인증 코드를 출력하는 OTP부, 클럭 신호 및 인증 코드에 응답하여 버퍼링 인증 코드를 생성하는 버퍼부, 버퍼링 인증 코드 및 입력 코드를 비교하고, 일치 여부를 인증 신호로서 출력하는 연산부 및 테스트 인에이블 신호가 입력되면 활성화되어 선택 신호에 응답하여 버퍼링 인증 코드를 출력 신호로서 외부로 출력하는 테스트 수행부를 포함한다.</p>
