发明名称 用于局部区域导航的高精确度射束放置
摘要 本发明涉及用于局部区域导航的高精确度射束放置。描述了在半导体芯片制造领域中用于局部区域导航的高精确度射束放置的改进的方法。本发明的优选实施例还可以被用于迅速导航到存储器阵列或类似结构中的一个单个位单元,以便例如表征或校正该单独位单元中的缺陷。使用高分辨率扫描来(沿着X轴和Y轴中的任一个)扫描阵列的一个边缘上的单元“带”以定位包含期望单元的行,之后是沿着所定位的行(在剩下的方向上)的类似高速扫描直到到达期望的单元位置为止。这允许使用图案识别工具来自动对导航到期望单元所必需的单元“计数”,而不用花费对整个阵列成像所需的大量时间。
申请公布号 CN102820238A 申请公布日期 2012.12.12
申请号 CN201210185985.0 申请日期 2012.06.07
申请人 FEI公司 发明人 R.L.瓦肖尔;R.J.杨;C.吕;P.D.卡尔森
分类号 H01L21/66(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 马永利;李家麟
主权项 一种用于到样本表面上的单元阵列内的具有已知单元地址X、Y的感兴趣特征的高精确度射束放置和导航的方法,包括:将样本加载到粒子束系统中;导航到包含感兴趣特征的阵列的部分;在样本表面上在所估计的感兴趣特征的位置附近的位置处形成至少一个基准;获得沿着该阵列的边缘的边缘带的图像,所述边缘带图像具有足够高的分辨率使得像素尺寸小于该阵列中的单元的最小重复尺度的一半,并且所述边缘带图像在长度上为至少X个单元并且显著小于第一图像中的视场;分析图像数据来沿着该阵列的边缘自动计数X个单元以便确定包含感兴趣特征的期望行的位置;获得沿着所述期望行的行带图像,所述行带图像具有足够高的分辨率使得像素尺寸小于该阵列中的单元的最小重复尺度的一半,并且所述行带图像在长度上为至少Y个单元并且显著小于第一图像中的视场,并且所述行带图像包括至少一个基准和感兴趣特征;分析图像数据来沿着所述期望行自动计数Y个单元以便确定包含感兴趣特征的单元地址X、Y的位置;以及确定至少一个基准和包含感兴趣特征的单元地址X、Y的位置之间的偏移。
地址 美国俄勒冈州