发明名称 |
基于离轴抛物面镜的激光测距机性能测试光学系统 |
摘要 |
本发明提供了一种基于离轴抛物面镜的激光测距机性能测试光学系统,能同时收纳激光测距机发射光路、接收光路以及激光辐射器模拟出的激光回波光路。该系统包括光源部件、激光发射性能测量单元、激光接收性能测量单元和激光测距/照射组件性能测量单元;光源部件由离轴抛物镜、白光光源及分划板、析光镜1、析光镜2、靶板、小孔光阑折转镜和长焦CCD摄像机组成;激光发射性能测量单元包括全反镜、物镜组、分光镜、能量探测器、纳秒探测器和光分仪探测器,激光接收性能测量单元包括激光模拟光源和双光楔。 |
申请公布号 |
CN102819014A |
申请公布日期 |
2012.12.12 |
申请号 |
CN201210256380.6 |
申请日期 |
2012.07.23 |
申请人 |
北京理工大学 |
发明人 |
邢冀川 |
分类号 |
G01S7/497(2006.01)I;G01C25/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01S7/497(2006.01)I |
代理机构 |
北京理工大学专利中心 11120 |
代理人 |
高燕燕 |
主权项 |
基于离轴抛物面镜的激光测距机性能测试光学系统,包括光源部件、激光发射性能测量单元、激光接收性能测量单元和激光测距/照射组件性能测量单元;其特征在于:光源部件由离轴抛物镜、白光光源及分划板、析光镜1、析光镜2、靶板、小孔光阑折转镜和长焦CCD摄像机组成;激光发射性能测量单元包括全反镜、物镜组、分光镜、能量探测器、纳秒探测器和光分仪探测器;激光接收性能测量单元包括激光模拟光源和双光楔;在测量激光发射性能过程中,全反镜切入光路中,激光由激光辐射组件发射,激光经过发射天线扩束后再由全反镜反射,然后通过物镜组,经过分光镜后,一部分激光进入能量探测器来测量激光能量,另一部分进入光分仪探测器来测量激光光束质量;当全反镜移除光路时,激光通过衰减器和离轴抛物面镜成像在分划板上,然后利用长焦CCD摄像机和折转镜观察激光光轴偏差和光轴稳定性,白光光源在分划板上所呈十字线为基准;在测量激光接收性能过程中,全反镜移除光路,激光模拟光源通过小孔光阑发射连续模拟激光,该激光通过析光镜2和析光镜1再经离轴抛物面镜成为平行光束,最后通过双光楔进入接收天线到达激光接收组件。 |
地址 |
100081 北京市海淀区中关村南大街5号 |