测试装置、解调装置、测试方法、解调方法以及电子元件

摘要

本发明提供一种测试装置，为一种对将振幅相位调制信号作为输出信号而输出的被测试元件进行测试之测试装置，其中，该振幅相位调制信号具有依据传送数据而从多个位准及多个相位所选择的位准及变化点的相位；该测试装置包括：比较部，其在期待相位之前，将较期待位准小的第1比较位准来和输出信号进行比较，在期待相位之后，将较期待位准大的第2比较位准及较期待位准小的第3比较位准来和输出信号进行比较；以及判定部，其以输出信号在期待相位前小于等于第1比较位准，在期待相位后小于等于第2比较位准且大于等于第3比较位准作为条件，而判定该输出信号与期待值相一致。

主权项

一种测试装置，为一种对将振幅相位调制信号作为输出信号而输出的被测试元件进行测试之测试装置，其中，该振幅相位调制信号具有依据传送数据而从多个位准及多个相位所选择的位准及变化点的相位；该测试装置包括：测试信号输出部，将测试信号输出到前述被测试元件；图案产生部，产生应依据前述测试信号而由前述被测试元件输出的、作为前述输出信号的位准的期待值之期待位准以及作为前述输出信号的变化点的相位的期待值之期待相位；比较部，在前述期待相位之前，将较前述期待位准小的第1比较位准来和前述输出信号进行比较，在前述期待相位之后，将较前述期待位准大的第2比较位准、较前述期待位准小的第3比较位准来和前述输出信号进行比较；以及判定部，其以前述输出信号在前述期待相位前小于等于前述第1比较位准，在前述期待相位后小于等于前述第2比较位准且大于等于前述第3比较位准作为条件，而判定该输出信号与期待值相一致。如申请专利范围第1项所述的测试装置，其中，前述比较部在前述期待相位之后，对与前述第1比较位准大致相同的前述第3比较位准来和前述输出信号进行比较。如申请专利范围第2项所述的测试装置，其中，前述比较部在前述期待相位之后的大致同一时序，对前述第2比较位准及前述第3比较位准来和前述输出信号进行比较。如申请专利范围第1项所述的测试装置，其中，前述比较部在前述期待相位之后，对较前述第1比较位准大的前述第3比较位准来和前述输出信号进行比较。如申请专利范围第4项所述的测试装置，其中，前述比较部在将前述第3比较位准和前述输出信号进行比较之后，对前述第2比较位准和前述输出信号进行比较。如申请专利范围第1项至第5项中任一项所述的测试装置，还设置有基准信号产生部，产生与测试周期相称之周期的基准信号；前述比较部具有第1可变延迟部，将依据设定的延迟量而使前述基准信号延迟的信号作为第1时序信号而输出，其中，第1时序信号用于指定将前述第1比较位准和前述输出信号进行比较的时序；第2可变延迟部，将依据设定的延迟量而使前述基准信号延迟的信号作为第2时序信号而输出，其中，第2时序信号用于指定将前述第2比较位准和前述输出信号进行比较的时序；第3可变延迟部，将依据设定的延迟量而使前述基准信号延迟的信号作为第3时序信号而输出，其中，第3时序信号用于指定将前述第3比较位准和前述输出信号进行比较的时序；以及延迟量控制部，依据前述期待相位而设定前述第1可变延迟部、前述第2可变延迟部及前述第3可变延迟部的延迟量。如申请专利范围第6项所述的测试装置，其中，前述比较部还具有基准延迟量产生部，在每一测试周期输出基准延迟量，其中，该基准延迟量表示从前述基准信号产生部的基准信号的产生时序开始到基准相位为止的延迟量；以及基准延迟部，依据前述基准延迟量而使前述基准信号产生部所输出的前述基准信号延迟；前述第1可变延迟部、前述第2可变延迟部及前述第3可变延迟部使前述基准延迟部所延迟的前述基准信号延迟；前述延迟量控制部在前述第1可变延迟部设定由前述基准相位开始到第1比较位准的比较时序为止之延迟量，在前述第2可变延迟部设定由前述基准相位开始到第2比较位准的比较时序为止之延迟量，在前述第3可变延迟部设定由前述基准相位开始到第3比较位准的比较时序为止之延迟量。如申请专利范围第7项所述的测试装置，其中，前述比较部还具有多个第1比较器，与前述输出信号所取得的多个位准分别对应设置，并分别将对应的第1比较位准来和输出信号进行比较；多个第1闩锁电路，与前述多个第1比较器分别对应设置，并在前述第1时序信号所指定的时序，取入对应的前述第1比较器的比较结果；多个第2比较器，与前述输出信号所取得的多个位准分别对应设置，并分别将对应的第2比较位准来和输出信号进行比较；多个第2闩锁电路，与前述多个第2比较器分别对应设置，并在前述第2时序信号所指定的时序，取入对应的前述第2比较器的比较结果；多个第3比较器，与前述输出信号所取得的多个位准分别对应设置，并分别将对应的第3比较位准来和输出信号进行比较；多个第3闩锁电路，与前述多个第3比较器分别对应设置，并在前述第3时序信号所指定的时序，取入对应的前述第3比较器的比较结果。如申请专利范围第7项所述的测试装置，其中，该测试装置包括延迟量输出部，输出由前述基准相位到第1比较位准的比较时序为止的延迟量、由前述基准相位到第2比较位准的比较时序为止的延迟量及由前述基准相位到第3比较位准的比较时序为止的延迟量；第1加法部，在前述第1可变延迟部中设定将前述基准相位到第1比较位准的比较时序为止的延迟量来和前述基准延迟量相加后之延迟量；第2加法部，在前述第2可变延迟部中设定将前述基准相位到第2比较位准的比较时序为止的延迟量来和前述基准延迟量相加后之延迟量；第3加法部，在前述第3可变延迟部中设定将前述基准相位到第3比较位准的比较时序为止的延迟量来和前述基准延迟量相加后之延迟量。如申请专利范围第9项所述的测试装置，其中，前述比较部还具有多个第1比较器，与前述输出信号所取得的多个位准分别对应设置，并分别将对应的第1比较位准来和输出信号进行比较；多个第1闩锁电路，与前述多个第1比较器分别对应设置，并在前述第1时序信号所指定的时序，取入对应的前述第1比较器的比较结果；多个第2比较器，与前述输出信号所取得的多个位准分别对应设置，并分别将对应的第2比较位准来和输出信号进行比较；多个第2闩锁电路，与前述多个第2比较器分别对应设置，并在前述第2时序信号所指定的时序，取入对应的前述第2比较器的比较结果；多个第3比较器，与前述输出信号所取得的多个位准分别对应设置，并分别将对应的第3比较位准来和输出信号进行比较；以及多个第3闩锁电路，与前述多个第3比较器分别对应设置，并在前述第3时序信号所指定的时序，取入对应的前述第3比较器的比较结果。如申请专利范围第1项所述的测试装置，其中，还具有基准信号产生部，产生与测试周期相称之周期的基准信号；前述比较部还具有第1时序信号输出部，输出在利用延迟元件将前述基准信号延迟，并使前述输出信号取得的多个相位分别为期待相位之情况下的多个第1时序信号，用于指定将前述第1比较位准和前述输出信号进行比较的时序；第2时序信号输出部，输出在利用延迟元件将前述基准信号延迟，并使前述输出信号取得的多个相位分别为期待相位之情况下的多个第2时序信号，用于指定将前述第2比较位准和前述输出信号进行比较的时序；第3时序信号输出部，输出在利用延迟元件将前述基准信号延迟，并使前述输出信号取得的多个相位分别为期待相位之情况下的多个第3时序信号，用于指定将前述第3比较位准和前述输出信号进行比较的时序；以及侦测部，侦测在第1比较时序时前述输出信号小于等于前述第1比较位准，在第2比较时序时前述输出信号小于等于前述第2比较位准且大于等于前述第3比较位准之位准及前述变化点的相位；前述判定部对前述侦测部所侦测的前述位准及前述变化点的相位是否与前述期待位准及前述期待相位一致来进行判定。如申请专利范围第11项所述的测试装置，其中，前述比较部还具有多个第1比较器，与前述输出信号所取得的多个位准分别对应设置，并分别将对应的第1比较位准来和输出信号进行比较；多个第1取入电路，与前述多个第1比较器分别对应设置，并含有多个闩锁电路群，在前述多个第1时序信号所指定的多个时序，分别取入对应的前述第1比较器的比较结果；多个第2比较器，与前述输出信号所取得的多个位准分别对应设置，并分别将对应的第2比较位准来和输出信号进行比较；多个第2取入电路，与前述多个第2比较器分别对应设置，并含有多个闩锁电路群，在前述多个第2时序信号所指定的多个时序，分别取入对应的前述第2比较器的比较结果；多个第3比较器，与前述输出信号所取得的多个位准分别对应设置，并分别将对应的第3比较位准来和输出信号进行比较；以及多个第3取入电路，与前述多个第3比较器分别对应设置，并含有多个闩锁电路群，在前述多个第3时序信号所指定的多个时序，分别取入对应的前述第3比较器的比较结果。如申请专利范围第1项至第5项中任一项所述的测试装置，其中，前述比较部具有位准比较电路，输出多个位准比较结果，其中，多个位准比较结果是将较前述输出信号取得的多个位准的各个的对应位准小之前述第1比较位准及较对应位准大之前述第2比较位准，分别与依据前述测试信号而由前述被测试元件输出的前述输出信号来进行比较之结果；取入部，在前述输出信号取得的多个相位的各个的对应相位之前的第1比较时序及对应相位之后的第2比较时序，分别取入前述位准比较电路所比较的前述多个位准比较结果；以及侦测部，根据前述取入部所取入的前述多个位准比较结果，侦测在前述第1比较时序，前述输出信号小于等于前述第1比较位准，在前述第2比较时序，前述输出信号小于等于前述第2比较位准且大于等于前述第1比较位准之位准及前述变化点的相位；前述判定部对前述侦测部所侦测的前述位准及前述变化点的相位是否与前述期待位准及前述期待相位一致来进行判定。如申请专利范围第13项所述的测试装置，其中，还具有基准信号产生部，用来产生周期与测试周期相称的基准信号；前述位准比较电路包括多个比较器，这些比较器与前述输出信号取得的多个位准的各个的前述第1比较位准及前述第2比较位准分别对应设置，且分别将对应的前述第1比较位准或前述第2比较位准来和前述输出信号进行比较；前述取入部包括多个取入电路，与前述多个比较器一对一地对应设置，并包含分别取入对应的前述比较器的位准比较结果之多个闩锁电路，以及多个时序信号输出部，与前述多个取入电路一对一地对应设置，并包含分别使前述基准信号依次延迟之多个延迟元件；各前述时序信号输出部的前述多个延迟元件输出多个时序信号，用于分别指定前述输出信号取得的多个相位的各个的前述第1比较时序及前述第2比较时序；各前述取入电路中包含的前述多个闩锁电路分别在对应的时序信号所指定的时序，取入对应的前述比较器的位准比较结果。如申请专利范围第14项所述的测试装置，其中，前述多个时序信号输出部中的第1时序信号输出部及第2时序信号输出部，使前述多个延迟元件的至少初级的延迟量彼此不同。如申请专利范围第13项所述的测试装置，其中，前述侦测部可以这样的条件而侦测前述输出信号的位准及变化点的相位为不定值，亦即，在前述输出信号取得的多个相位的各个的前述第1比较时序及前述第2比较时序中，由前述被测试元件所输出的前述输出信号，不包含在该输出信号取得的多个位准的各个的小于等于前述第2比较位准且大于等于前述第1比较位准之范围中。一种测试装置，为一种对将振幅相位调制信号作为输出信号而输出的被测试元件进行测试之测试装置，其中，该振幅相位调制信号具有依据传送数据而从多个位准及多个相位所选择的位准及变化点的相位；该测试装置包括：测试信号输出部，将测试信号输出到前述被测试元件；图案产生部，产生应依据前述测试信号而由前述被测试元件输出的、作为前述输出信号的位准的期待值之期待位准以及作为前述输出信号的变化点的相位的期待值之期待相位；比较部，在前述期待相位之前，将较前述期待位准大的第5比较位准及较前述期待位准小的第6比较位准来和前述输出信号进行比较，在前述期待相位之后，将较前述期待位准小的第4比较位准来和前述输出信号进行比较；以及判定部，以前述输出信号在前述期待相位前小于等于前述第5比较位准且大于等于前述第6比较位准，在前述期待相位后小于等于前述第4比较位准作为条件，而判定该输出信号与期待值相一致。一种解调装置，为一种对振幅相位调制信号进行解调的解调装置，其中，该振幅相位调制信号具有依据传送数据而从多个位准及多个相位所选择的位准及变化点的相位；该解调装置包括：位准比较电路，输出多个位准比较结果，其是将较前述振幅相位调制信号取得的多个位准的各个的对应位准小之第1比较位准及较对应的位准大之第2比较位准，分别与所输入的前述振幅相位调制信号进行比较后的比较结果；取入部，在前述振幅相位调制信号取得的多个相位的各个对应的相位之前的第1比较时序及对应的相位之后的第2比较时序，分别取入前述位准比较电路所比较的多个位准比较结果；侦测部，根据前述取入部所取入的前述多个位准比较结果，侦测在前述第1比较时序时前述振幅相位调制信号小于等于前述第1比较位准，在前述第2比较时序时前述振幅相位调制信号小于等于前述第2比较位准且大于等于前述第1比较位准之位准及变化点的相位；以及数据输出部，输出与前述侦测部所侦测的前述位准及变化点的相位相称之数据。一种解调装置，为一种对振幅相位调制信号进行解调的解调装置，其中，该振幅相位调制信号具有依据传送数据而从多个位准及多个相位所选择的位准及变化点的相位；该解调装置包括：位准比较电路，输出多个位准比较结果，其是将较前述振幅相位调制信号取得的多个位准的各个的对应位准小之第4比较位准及较对应的位准大之第5比较位准，分别与所输入的前述振幅相位调制信号进行比较后的比较结果；取入部，在前述振幅相位调制信号取得的多个相位的各个对应的相位之后的第4比较时序及对应的相位之前的第5比较时序，分别取入前述位准比较电路所比较的多个位准比较结果；侦测部，根据前述取入部所取入的前述多个位准比较结果，侦测在前述第4比较时序时前述振幅相位调制信号小于等于前述第4比较位准，在前述第5比较时序时前述振幅相位调制信号小于等于前述第5比较位准且大于等于前述第4比较位准之位准及变化点的相位；以及数据输出部，输出与前述侦测部所侦测的前述位准及变化点的相位相称之数据。一种测试方法，为一种对将振幅相位调制信号作为输出信号而输出的被测试元件进行测试的测试方法，其中，该振幅相位调制信号具有依据传送数据而从多个位准及多个相位所选择的位准及变化点的相位；该测试方法是对前述被测试元件输出测试信号，并产生应依据前述测试信号而由前述被测试元件输出的、作为前述输出信号的位准的期待值之期待位准以及作为前述输出信号的变化点的相位的期待值之期待相位，且在前述期待相位之前，将较前述期待位准小的第1比较位准和前述输出信号进行比较，在前述期待相位之后，将较前述期待位准大的第2比较位准及较前述期待位准小的第3比较位准来和前述输出信号进行比较，并以前述输出信号在前述期待相位前小于等于前述第1比较位准，在前述期待相位后小于等于前述第2比较位准且大于等于前述第3比较位准作为条件，而判定该输出信号与期待值相一致。一种测试方法，为一种对将振幅相位调制信号作为输出信号而输出的被测试元件进行测试的测试方法，其中，该振幅相位调制信号具有依据传送数据而从多个位准及多个相位所选择的位准及变化点的相位；该测试方法是对前述被测试元件输出测试信号，并产生应依据前述测试信号而由前述被测试元件输出的、作为前述输出信号的位准的期待值之期待位准以及作为前述输出信号的变化点的相位的期待值之期待相位，且在前述期待相位之后，将较前述期待位准小的第4比较位准来和前述输出信号进行比较，在前述期待相位之前，将较前述期待位准大的第5比较位准及较前述期待位准小的第6比较位准来和前述输出信号进行比较，并以前述输出信号在前述期待相位后小于等于前述第4比较位准，在前述期待相位前小于等于前述第5比较位准且大于等于前述第6比较位准作为条件，而判定该输出信号与期待值相一致。一种解调方法，为一种对振幅相位调制信号进行解调的解调方法，其中，该振幅相位调制信号具有依据传送数据而从多个位准及多个相位所选择的位准及变化点的相位；该解调方法输出多个位准比较结果，该位准比较结果是将较前述振幅相位调制信号取得的多个位准的各个的对应位准小之第1比较位准及较对应的位准大之第2比较位准，分别与所输入的前述振幅相位调制信号进行比较后的比较结果，并在前述振幅相位调制信号取得的多个相位的各个的对应相位之前的第1比较时序及对应相位之后的第2比较时序，分别取入多个前述位准比较结果，且根据取入的前述多个位准比较结果，侦测在前述第1比较时序时前述振幅相位调制信号小于等于前述第1比较位准，在前述第2比较时序时前述振幅相位调制信号小于等于前述第2比较位准且大于等于前述第1比较位准之位准及变化点的相位，并输出与已侦测到的前述位准及变化点的相位相称的数据。一种解调方法，为一种对振幅相位调制信号进行解调的解调方法，其中，该振幅相位调制信号具有依据传送数据而从多个位准及多个相位所选择的位准及变化点的相位；该解调方法输出多个位准比较结果，该位准比较结果是将较前述振幅相位调制信号取得的多个位准的各个的对应位准小之第4比较位准及较对应的位准大之第5比较位准，分别与所输入的前述振幅相位调制信号进行比较，并在前述振幅相位调制信号取得的多个相位的各个的对应相位之后的第4比较时序及对应相位之前的第5比较时序，分别取入前述多个位准比较结果，且根据取入的前述多个位准比较结果，侦测在前述第4比较时序时前述振幅相位调制信号小于等于前述第4比较位准，在前述第5比较时序时前述振幅相位调制信号小于等于前述第5比较位准且大于等于前述第4比较位准之位准及变化点的相位，并输出与已侦测到的前述位准及变化点的相位相称的数据。一种电子元件，包括：被测试电路，其将振幅相位调制信号作为输出信号而输出，其中，振幅相位调制信号具有依据传送数据而从多个位准及多个相位所选择的位准及变化点的相位；以及测试电路，其对前述被测试元件电路进行测试；而且，前述测试电路包括：测试信号输出部，将测试信号输出到前述被测试电路；图案产生部，产生应依据前述测试信号而由前述被测试电路输出的、作为前述输出信号的位准的期待值之期待位准以及作为前述输出信号的变化点的相位的期待值之期待相位；比较部，在前述期待相位之前，将较前述期待位准小的第1比较位准来和前述输出信号进行比较，在前述期待相位之后，将较前述期待位准大的第2比较位准及较前述期待位准小的第3比较位准来和前述输出信号进行比较；以及判定部，以前述输出信号在前述期待相位前小于等于前述第1比较位准，在前述期待相位后小于等于前述第2比较位准且大于等于前述第3比较位准作为条件，而判定该输出信号与期待值相一致。