发明名称 System und Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung
摘要 Zerstörungsfreie Prüf- und Untersuchungssysteme und -verfahren erzeugen Modelle und andere Darstellungen eines Teils. Diese Modelle können verwendet werden, um eine Analyse, wie beispielsweise eine Defekterkennung und -kategorisierung, durchzuführen. Die vorliegende Offenbarung identifiziert in einestimmte Stellen an dem Teil für die Analyse identifiziert. Diese Stellen entsprechen Regionen eines Referenzmodells, das eine Darstellung des Teils aufweisen kann, die ein computergestütztes Konstruktionspaket (CAD-Paket) erzeugen kann. Das Verfahren sieht vor, dass Testparameter der Region zugewiesen oder zugeordnet werden, um die Ausführung der relevanten Teileanalyseprotokolle zu leiten und anzuweisen. In einem Beispiel identifizieren die Testparameter Kriterien für einen oder mehrere Typen von Defekten, die an dem Teil vorgefunden werden können.
申请公布号 DE102012104563(A1) 申请公布日期 2012.11.29
申请号 DE201210104563 申请日期 2012.05.25
申请人 GENERAL ELECTRIC COMPANY 发明人 STUKE, INGO;BEYER, ANDREAS;HORN, LOTHAR;LUX, HOLGER;WUESTENBECKER, MICHAEL
分类号 G01B15/00;G01N23/06 主分类号 G01B15/00
代理机构 代理人
主权项
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