发明名称 | 一种抗折抗压试验机测控系统 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种抗折抗压试验机测控系统,包括用于信号处理的测控模块与用于信号放大的功放模块,所述测控模块与所述功放模块之间通过光耦实现信号传输。本实用新型将测控系统中的测控模块和功放模块放在一块电路板上,且两者之间使用光耦隔离,成功缩小了设备体积,并增加了设备可靠性。 | ||
申请公布号 | CN202548001U | 申请公布日期 | 2012.11.21 |
申请号 | CN201220102852.8 | 申请日期 | 2012.03.19 |
申请人 | 杭州朗杰测控技术开发有限公司 | 发明人 | 沈波 |
分类号 | G01N3/00(2006.01)I;G05B19/04(2006.01)I | 主分类号 | G01N3/00(2006.01)I |
代理机构 | 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 | 代理人 | 胡根良 |
主权项 | 一种抗折抗压试验机测控系统,包括用于信号处理的测控模块与用于信号放大的功放模块,其特征在于:所述测控模块与所述功放模块之间通过光耦实现信号传输。 | ||
地址 | 310004 浙江省杭州市下城区绍兴路347号 |