发明名称 |
用于对测试元件上的试样进行分析的分析仪器 |
摘要 |
本发明涉及一种用于对在测试元件上的试样进行分析的分析仪器,该分析仪器包括至少一个用于电流传输的电接触的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132),该电接触的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)适合于与至少一个另外的部件建立电接触。所述电接触的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)在此是注塑的线路载体(MID)。 |
申请公布号 |
CN102788875A |
申请公布日期 |
2012.11.21 |
申请号 |
CN201210234776.0 |
申请日期 |
2006.10.24 |
申请人 |
霍夫曼-拉罗奇有限公司 |
发明人 |
S·里贝尔;H·韦德;G·巴因齐克;M·奥格斯坦;A·格罗瑟;O·库比;D·梅尼克;B·索斯 |
分类号 |
G01N33/487(2006.01)I;G01N27/327(2006.01)I |
主分类号 |
G01N33/487(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
杨国治 |
主权项 |
用于对在测试元件上的试样进行分析的分析仪器,包括至少一个适合于与至少一个另外的用于电流传输的部件建立电接触的电接触的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132),其特征在于,所述电接触的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)是注塑的线路载体,其中,所述分析仪器(1)包括用于对包含在测试元件上的分析物进行测量的测量模块(111),该测量模块(111)则包括在测量过程中用于接纳所述测试元件的测试元件接纳口(113),在该测试元件接纳口(113)中包含了用于对所述测试元件进行恒温处理的恒温装置(114),其中,所述具有包括加热螺旋灯丝(115)和有弹性的触点(116)的恒温装置(114)的测试元件接纳口(113)是注塑的线路载体。 |
地址 |
瑞士巴塞尔 |