发明名称 具有挠曲性按压区的采样装置
摘要 本发明提供一种具有挠曲性按压区的采样装置,其包含:一个界定出一个容室的壳件及一个针头。该壳件具有呈相反设置的一个第一壁体及一个第二壁体。该第一壁体具有一个能够朝向该容室挠曲的按压区。所述第一、二壁体分别具有一个相互对应设置且与该按压区相间隔设置的采样区。所述第一、二壁体的采样区共同界定出一与该容室相通的管道。该针头是设置于该管道,藉此设计,本发明在简化采样及检测流程的同时,也能够降低采样样本被污染的可能性,并提升样本的检验值的精准度。
申请公布号 CN102068262B 申请公布日期 2012.11.21
申请号 CN200910223675.1 申请日期 2009.11.23
申请人 财团法人金属工业研究发展中心 发明人 黄俊维;陈敏华;谢培焕
分类号 A61B5/154(2006.01)I;A61B5/157(2006.01)I 主分类号 A61B5/154(2006.01)I
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人 寿宁;张华辉
主权项 一种具有挠曲性按压区的采样装置,包含一个壳件,及一个针头,其特征在于:该壳件界定出一个容室,且具有呈相反设置的一个第一壁体及一个第二壁体,该第一壁体具有一个能够朝向该容室挠曲的按压区,所述第一、二壁体分别具有一个相互对应设置且与该按压区相间隔设置的采样区,所述第一、二壁体的采样区共同界定出一个与该容室相通的管道,该针头设置于该管道;该采样装置还包含一片夹置于该第一、二壁体之间的垫片,该垫片具有一个通道,及一个与该通道相连通的容置口,该针头是被该垫片夹置且设置于该通道,该第一、二壁体及该垫片的容置口形成一样本容置空间。
地址 中国台湾高雄市楠梓区高楠公路1001号