积体电路设计决定标准单元之方法

摘要

积体电路设计流程包含设计RTL、逻辑合成、自动配置/绕线及布局，积体电路设计者可根据每一标准单元之时间、面积以及最佳单元指标来选择合适的标准单元于积体电路中。再者，产生最佳单元指标之步骤包含产生每一标准单元在复数个环境状态之关键尺寸，产生复数个对应于该复数个环境状态之电路参数，计算该复数个电路参数与该标准单元于理想状态之电路参数之差值，以及分析差值之分布。

主权项

一种积体电路设计决定标准单元之方法，包含：提供复数功能相同之标准单元；产生每一标准单元于复数个环境状态之关键尺寸(critical dimension)资料；根据每一标准单元于该复数个环境状态之关键尺寸资料，产生复数个对应于该复数个环境状态之电路参数；将每一标准单元之复数个电路参数与该标准单元于一理想状态之电路参数相减，以产生复数个电路参数之差值；计算每一标准单元之复数个电路参数之差值之分布，以产生每一标准单元之最佳单元指标；以及根据每一标准单元之最佳单元指标，由该复数个功能相同之标准单元中选择一标准单元于该积体电路中。如请求项1所述之方法，其中提供该复数个功能相同之标准单元系提供该复数个功能相同但布局面积不同之标准单元。如请求项1所述之方法，其中计算每一标准单元之复数个电路参数之差值之分布，以产生每一标准单元之最佳单元指标系计算每一标准单元之复数个电路参数之差值之分布的集中程度，以产生每一标准单元之最佳单元指标。如请求项1所述之方法，其中根据每一标准单元之最佳单元指标，由该复数个功能相同之标准单元中选择一标准单元于该积体电路中系根据每一标准单元之最佳单元指标之权重或优先顺序，由该复数个功能相同之标准单元中选择一标准单元于该积体电路中。如请求项1所述之方法，其中根据每一标准单元于该复数个环境状态之关键尺寸资料，产生该复数个对应于该复数个环境状态之电路参数系根据每一标准单元于该复数个环境状态之关键尺寸资料，产生该复数个对应于该复数个环境状态之时间资料。如请求项5所述之方法，其中计算每一标准单元之复数个电路参数之差值之分布，以产生每一标准单元之最佳单元指标系计算每一标准单元之复数个时间资料之差值之分布，定义Y为时间资料之差值之最大计数，N为时间资料之差值之总数，X为时间资料之差值之范围，以产生每一标准单元之最佳单元指标(Y/N)/X。如请求项1所述之方法，其中根据每一标准单元于该复数个环境状态之关键尺寸资料，产生该复数个对应于该复数个环境状态之电路参数系根据每一标准单元于该复数个环境状态之关键尺寸资料，产生该复数个对应于该复数个环境状态之功率资料。如请求项7所述之方法，其中计算每一标准单元之复数个电路参数之差值之分布，以产生每一标准单元之最佳单元指标系计算每一标准单元之复数个功率资料之差值之分布，定义Y为功率资料之差值之最大计数，N为功率资料之差值之总数，X为功率资料之差值之范围，以产生每一标准单元之最佳单元指标(Y/N)/X。一种积体电路设计决定标准单元之方法，包含：提供复数个功能相同之标准单元；根据每一标准单元之面积大小，产生一第一指标；根据每一标准单元之时间资料，产生一第二指标；根据每一标准单元于复数个环境状态之关键尺寸资料，产生一第三指标；决定该第一指标、该第二指标以及该第三指标之权重以及优先顺序；以及根据该第一指标、该第二指标以及该第三指标之权重或优先顺序，由该复数个功能相同之标准单元中选择一标准单元于该积体电路中。如请求项9所述之方法，其中提供该复数个功能相同之标准单元系提供该复数个功能相同但布局面积大小不同之标准单元。如请求项9所述之方法，其中根据每一标准单元于复数个环境状态之关键尺寸资料，产生该第三指标系包含：产生每一标准单元于该复数个环境状态之关键尺寸资料；根据每一标准单元于该复数个环境状态之关键尺寸资料，产生复数个对应于该复数个环境状态之时间资料；将每一标准单元之复数个时间资料与该标准单元于一理想状态之时间资料相减，以产生该复数个时间资料之差值；以及计算每一标准单元之复数个时间资料之差值之分布，以产生每一标准单元之第三指标。如请求项11所述之方法，其中计算每一标准单元之复数个时间资料之差值之分布，以产生每一标准单元之第三指标系计算每一标准单元之复数个时间资料之差值之分布，定义Y为时间资料之差值之最大计数，N为时间资料之差值之总数，X为时间资料之差值之范围，以产生每一标准单元之第三指标(Y/N)/X。如请求项9所述之方法，其中根据每一标准单元于复数个环境状态之关键尺寸资料，产生该第三指标系包含：产生每一标准单元于该复数个环境状态之关键尺寸资料；根据每一标准单元于该复数个环境状态之关键尺寸资料，产生复数个对应于该复数个环境状态之功率资料；将每一标准单元之复数个功率资料与该标准单元于一理想状态之功率资料相减，以产生该复数个功率资料之差值；以及计算每一标准单元之复数个功率资料之差值之分布，以产生每一标准单元之第三指标之功率指标。如请求项13所述之方法，其中计算每一标准单元之复数个功率资料之差值之分布，以产生每一标准单元之第三指标之功率指标系计算每一标准单元之复数个功率资料之差值之分布，定义Y1为功率资料之差值之最大计数，N1为功率资料之差值之总数，X1为功率资料之差值之范围，以产生每一标准单元之第三指标之功率指标(Y1/N1)/X1。如请求项13所述之方法，其中根据每一标准单元于复数个环境状态之关键尺寸资料，产生该第三指标另包含：根据每一标准单元于该复数个环境状态之关键尺寸资料，产生复数个对应于该复数个环境状态之时间资料；将每一标准单元之复数个时间资料与该标准单元于该理想状态之时间资料相减，以产生该复数个时间资料之差值；以及计算每一标准单元之复数个时间资料之差值之分布，以产生每一标准单元之第三指标之时间指标。如请求项15所述之方法，其中计算每一标准单元之复数个时间资料之差值之分布，以产生每一标准单元之第三指标之时间指标系计算每一标准单元之复数个时间资料之差值之分布，定义Y2为时间资料之差值之最大计数，N2为时间资料之差值之总数，X2为时间资料之差值之范围，以产生每一标准单元之第三指标之时间指标(Y2/N2)/X2。如请求项9所述之方法，其中决定该第一指标、该第二指标以及该第三指标之权重以及优先顺序系根据该积体电路之特性给予该第一指标、该第二指标以及该第三指标之权重以及优先顺序。如请求项9所述之方法，其中根据该第一指标、该第二指标以及该第三指标之权重或优先顺序，由该复数个功能相同之标准单元中选择一标准单元于该积体电路中系根据该第一指标、该第二指标以及该第三指标之权重或优先顺序，由一电子设计自动化(Electronics Design Automation,EDA)工具选择该复数个功能相同之一标准单元于该积体电路中。