发明名称 Hochsperrendes Halbleiterbauelement mit niedriger Durchlassspannung
摘要 Halbleiterbauelement mit einer in einem Halbleiterkörper (1) ausgebildeten Driftstrecke (2) aus einem Halbleitermaterial eines Leitungstyps, die eine zwischen wenigstens einer ersten und einer zweiten Elektrode (3, 4) und wenigstens entlang eines Teiles der Driftstrecke (2) angeordnete Grabenstruktur in Form mindestens eines Trenches (18) aufweist, wobei in der Grabenstruktur ein high-k-Material genanntes dielektrisches Material, das eine relative Dielektrizitätskonstanteεr mitεr≥20 aufweist, so angeordnet ist, dass im Bereich der Driftstrecke (2) mindestens ein high-k-Materialgebiet (5) und ein Halbleitermaterialgebiet (6) des einen Leitungstyps angeordnet sind, und wobei das Material des high-k-Materialgebiets (5) ein zusammengestztes Material aufweist, das leitfähige Bereiche (15, 16) in Form von unregelmäßig oder regelm enthält, wobei die leitfähigen Bereiche (15, 16) jeweils von einem Dielektrikum (17) aus high-k-Material umgeben sind.
申请公布号 DE102004007197(B4) 申请公布日期 2012.11.08
申请号 DE20041007197 申请日期 2004.02.13
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 PFIRSCH, FRANK;HIRLER, FRANZ;MAUDER, ANTON
分类号 H01L29/06;H01L29/40;H01L29/417;H01L29/78;H01L29/80;H01L29/808;H01L29/872 主分类号 H01L29/06
代理机构 代理人
主权项
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