发明名称 |
一种沟槽超结MOS结构半导体装置及其制备方法 |
摘要 |
本发明涉及一种沟槽超结MOS结构半导体装置,还涉及一种沟槽超结MOS结构半导体装置的制备方法;本发明将超结结构设置在沟槽之间的半导体材料中,简化了超结结构的制造流程;本发明是制造的功率MOSFET器件和超级势垒整流器的基础结构。 |
申请公布号 |
CN102760763A |
申请公布日期 |
2012.10.31 |
申请号 |
CN201110105377.X |
申请日期 |
2011.04.25 |
申请人 |
朱江 |
发明人 |
朱江 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/08(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
一种沟槽超结MOS结构半导体装置,包括:第一导电类型半导体材料表面设置有多个沟槽;沟槽内壁生长有钝化层,沟槽内填充有栅极介子;沟槽之间半导体材料设置有第二导电类型半导体材料体区;在体区内上部临靠沟槽设置有第一导电类型半导体材料源区;在体区内下部临靠沟槽设置有第一导电类型半导体材料超结漏区,超结漏区与源区之间为第二导电类型半导体材料体区,超结漏区与体区下部第一导电类型半导体材料形成的漏区相连;超结漏区和体区下部形成超结结构,其位于沟槽之间的半导体材料中。 |
地址 |
310018 浙江省杭州市下沙六号大街野风海天城27栋1单元2603 |