发明名称 一种沟槽超结MOS结构半导体装置及其制备方法
摘要 本发明涉及一种沟槽超结MOS结构半导体装置,还涉及一种沟槽超结MOS结构半导体装置的制备方法;本发明将超结结构设置在沟槽之间的半导体材料中,简化了超结结构的制造流程;本发明是制造的功率MOSFET器件和超级势垒整流器的基础结构。
申请公布号 CN102760763A 申请公布日期 2012.10.31
申请号 CN201110105377.X 申请日期 2011.04.25
申请人 朱江 发明人 朱江
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/08(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种沟槽超结MOS结构半导体装置,包括:第一导电类型半导体材料表面设置有多个沟槽;沟槽内壁生长有钝化层,沟槽内填充有栅极介子;沟槽之间半导体材料设置有第二导电类型半导体材料体区;在体区内上部临靠沟槽设置有第一导电类型半导体材料源区;在体区内下部临靠沟槽设置有第一导电类型半导体材料超结漏区,超结漏区与源区之间为第二导电类型半导体材料体区,超结漏区与体区下部第一导电类型半导体材料形成的漏区相连;超结漏区和体区下部形成超结结构,其位于沟槽之间的半导体材料中。
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