发明名称 |
Verfahren zur Bildung einer Nitrid-Halbleiterschicht auf strukturiertem Substrat und Licht emittierende Diode umfassend eine solche |
摘要 |
Verfahren zur Bildung einer Nitrid-Halbleiterschicht auf einem strukturierten Substrat, umfassend: dweisend eine Struktur von Vorsprüngen und ausgesparten Bereichen; die Bildung einer Keimbildungsschicht auf dem strukturierten Substrat; die Bildung einer ersten 3D-Wachstumsschicht auf dem Substrat, aufweisend die Keimbildungsschicht unter 3D-Wachstumsbedingungen, indem das vertikale Wachstum einer Nitrid-Halbleiterschicht schneller erfolgt als das laterale Wachstum; die Bildung einer ersten 2D-Wachstumsschicht auf der ersten 3D-Wachstumsschicht unter 2D-Wachstumsbedingungen, indem das laterale Wachstum einer Nitrid-Halbleiterschicht schneller erfolgt als das vertikale Wachstum; die Bildung einer zweiten 3D-Wachstumsschicht auf der ersten 2D-Wachstumsschicht, indem das Wachstum einer Nitrid-Halbleiterschicht unter 3D-Wachstumsbedingungen erfolgt; und die Bildung einer zweiten 2D-Wachstumsschicht auf der zweiten 3D-Wachstumsschicht, indem das Wachstum einer Nitrid-Halbleiterschicht unter 2D-Wachstumsbedingungen erfolgt, wobei die 3D-Wachstumsbedingungen für das Wachstum der ersten 3D-Wachstumsschicht derart gewählt sind, dass diese eine Substrattemperatur (T1) im Bereich von 600–1200°C und einen Kammerdruck (P1) im Bereich von 10–760 mbar...
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申请公布号 |
DE102008010318(B4) |
申请公布日期 |
2012.10.31 |
申请号 |
DE200810010318 |
申请日期 |
2008.02.21 |
申请人 |
SEOUL OPTO DEVICE CO. LTD. |
发明人 |
CHOI, JOO WON;KIM, KYOUNG HOON;HWANG, EU JIN |
分类号 |
H01L21/205;H01L21/36;H01L33/00;H01L33/22;H01L33/32 |
主分类号 |
H01L21/205 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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