发明名称 |
用于半导体衬底的贯穿硅通孔及其生产方法 |
摘要 |
半导体元件包括具有顶面的半导体衬底。开口从顶面延伸至半导体衬底中。该开口包括内表面。具有第一压缩应力的第一介电衬里设置在开口的内表面上。具有拉伸应力的第二介电衬里设置在第一介电衬里上。具有第二压缩应力的第三介电衬里设置在第二介电衬里上。金属阻挡层设置在第三介电衬里上。导电材料设置在金属阻挡层上并填充开口。本发明还提供了一种用于半导体衬底的贯穿硅通孔及其生产方法。 |
申请公布号 |
CN102738119A |
申请公布日期 |
2012.10.17 |
申请号 |
CN201210104185.1 |
申请日期 |
2012.04.10 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
余振华;张正宏;廖鄂斌;余佳霖;王湘仪;张俊华;黄立贤;郭智维;吴仓聚;邱文智 |
分类号 |
H01L23/538(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/538(2006.01)I |
代理机构 |
北京德恒律师事务所 11306 |
代理人 |
陆鑫;房岭梅 |
主权项 |
一种半导体元件包括:半导体衬底,所述半导体衬底具有顶面;开口,所述开口从所述顶面延伸至所述半导体衬底中,其中所述开口包括内表面;具有第一压缩应力的第一介电衬里,所述第一介电衬里设置在所述开口的所述内表面上;具有拉伸应力的第二介电衬里,所述第二介电衬里设置在所述第一介电衬里上;具有第二压缩应力的第三介电衬里,所述第三介电衬里设置在所述第二介电衬里上;金属阻挡层,所述金属阻挡层设置在所述第三介电衬里上;以及导电材料,所述导电材料设置在所述金属阻挡层上并填充所述开口。 |
地址 |
中国台湾新竹 |