发明名称 用于可编程逻辑器件的增益单元eDRAM
摘要 本发明属于嵌入式动态随机存储器技术领域,具体为一种用于可编程逻辑器件的增益单元eDRAM。本发明中的增益单元eDRAM,包括读MOS晶体管、写MOS晶体管、写字线、读字线、写位线、读位线以及等效寄生电容,所述等效寄生电容的存储电荷端控制所述可编程逻辑器件的开关管,利用该增益单元eDRAM无破坏性读出或者破坏性读出较小的特点,在刷新操作过程中,进行读操作时,存储节点的电位不发生变化或者电位变化比较小,从而不会影响开关管的逻辑状态的变化。使用该增益单元eDRAM的可编程逻辑器件的芯片面积可以大大缩小。
申请公布号 CN101908371B 申请公布日期 2012.10.17
申请号 CN200910052484.3 申请日期 2009.06.04
申请人 复旦大学 发明人 林殷茵;薛晓勇
分类号 G11C11/405(2006.01)I;G11C11/409(2006.01)I 主分类号 G11C11/405(2006.01)I
代理机构 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人 陆飞;盛志范
主权项 一种用于可编程逻辑器件的eDRAM,包括读MOS晶体管、写MOS晶体管、写字线、读字线、写位线、读位线以及等效寄生电容;写MOS晶体管的栅极连接于写字线;写MOS晶体管的漏端连接于写位线,写MOS晶体管的源端连接于所述等效寄生电容的存储电荷端,或者写MOS晶体管的源端连接于写位线,写MOS晶体管的漏端连接于所述等效寄生电容的存储电荷端;读MOS晶体管的栅极连接于所述等效寄生电容的存储电荷端;读MOS晶体管的漏端连接于读位线,读MOS晶体管的源端连接于读字线,或者读MOS晶体管的源端连接于读位线,读MOS晶体管的漏端连接于读字线;其特征在于,所述等效寄生电容的存储电荷端控制所述可编程逻辑器件的开关管;其中,所述等效寄生电容为写MOS晶体管的有源区寄生电容、读MOS晶体管的栅电容、开关管的栅电容之一,或者为写MOS晶体管的有源区寄生电容、读MOS晶体管的栅电容、开关管的栅电容的组合。
地址 200433 上海市邯郸路220号