用于电子元件之以模型为基础的测试法

摘要

该以模型为基础的测试法可测试产品装置与一装置设计之性能规格的一致性。该等产品装置系依据该装置设计以一制法来制成。于该方法中，一依据该装置设计及性能规格的简单模型会被形成导出，一用来测试该等产品装置的刺激会被指定，且各产品装置会被测试。该模型具有一基本函数，及该基本函数的模型参数。该等模型参数系取决于该制法，而在该各产品装置中的值并不相同。一产品装置系如下来测试：测量该产品装置对该刺激的反应；使用该模型由所测得的反应与该刺激来获取该产品装置的模型参数值；及使用所获取的模型参数值来检核该产品装置与性能规格的一致性。

主权项

一种以模型为基础之用来测试产品装置与一装置设计之性能规格的一致性之方法，该等产品装置系依该装置设计以一制法来制成，而该方法包含：依据该装置设计和性能规格来形成一简单模型，该模型包含一基本函数及用于该基本函数的模型参数，该等模型参数系取决于制法，且在该等产品装置之间的值并不相同；指定一用来测试该等产品装置的刺激因子；及测试各产品装置，该测试包括：测量该产品装置对该刺激因子的反应；使用该模型而由所测出的反应和该刺激因子来获取供用于该产品装置的模型参数值；使用所获取之模型参数值来检核该产品装置与性能规格间的一致性；以及根据该一致性测试将该等产品装置分类成好的或坏的。如申请专利范围第1项之方法，更包含由所获取的模型参数值来界定用以投射供用于该产品装置之性能量值的投射函数。如申请专利范围第2项之方法，其中该检核步骤包括：使用该投射函数由所获取的模型参数值来投射供用于该产品装置的性能量值；及检核该性能量值与各别性能规格之一致性。如申请专利范围第1项之方法，其中：该方法更包括：将所获取供用于产品装置之模型参数值代入该模型来形成一该产品装置的运作模型；及使用该运作模型来投射供用于该产品装置的性能量值；且该检核步骤包括检核该性能量值与各别性能规格的一致性。如申请专利范围第4项之方法，其中该投射步骤包括：施一习用的刺激因子于该运作模型；决定该运作模型对该习用刺激因子的反应；及由该刺激因子和反应来决定一性能量值。如申请专利范围第4项之方法，其中：该习用刺激因子会被模拟；且该决定步骤包括算出该运作模型对该该模拟刺激因子的反应来提供一性能量值。如申请专利范围第1项之方法，其中：该方法更包括将该装置设计的性能规格转化成一模型参数态样；且该检核步骤包括检核所获取之模型参数值与被转化成模型参数态样的性能规格之一致性。如申请专利范围第1项之方法，其中该基本函数包含一非线性方程式。如申请专利范围第1项之方法，其中该基本函数具有少于100个模型参数。如申请专利范围第1项之方法，更包括确认该模型。如申请专利范围第10项之方法，其中该形成步骤与确认步骤系依该装置设计使用不同组的装置来进行。如申请专利范围第10项之方法，其中该确认步骤系依该装置设计使用模拟装置来进行。一种产生一供测试产品装置与一装置设计之性能规格间一致性之以模型为基础之测试方案的方法，该等产品装置系依据该装置设计以一制法来制成，而该方法包含：依据该装置设计和性能规格来形成一模型，该模型包含一基本函数及用于该基本函数的模型参数，该等模型参数系取决于制法，且在该产品装置之间的值并不相同；使用该模型，指定一供用来测试该等产品装置的刺激因子；将该模型和该刺激因子的规格并入该测试方案中；以及储存该测试方案以用于之后测试该投射函数。如申请专利范围第13项之方法，更包含：由该等模型参数值来界定供投射用于该等产品装置之性能量值的投射函数；及将该等投射函数加入该测试方案。如申请专利范围第13项之方法，其中该界定步骤乃包括：提供形成装置；界定一初始投射函数；决定一使用该初始投射函数所投射之供用于形成装置的性能量值是否以可接受的精确度来匹配于该等形成装置所测出的对应性能量值；当该精确度系不可接受时则修正该投射函数；及重复该决定步骤和修正步骤，直到该精确度能被接受为止。如申请专利范围第13项之方法，更包含：将该装置设计的性能规格转化成一模型参数态样；及将所转化的性能规格加入该测试方案。如申请专利范围第13项之方法，其中该形成步骤包括：提供形成装置；依据该装置设计选出一初始非线性公式组，该公式组包含模型参数；使用该公式组及用该等公式由形成装置所获得的刺激/反应数据获取的模型参数值来使该形成装置进行模拟；决定该等形成装置的模拟模型运作是否有可接受的精确度。如申请专利范围第17项之方法，更包含：当该精确度系不可接受时，则修正该初始公式组；及重复该模拟步骤、决定步骤、和修正步骤，直到该精确度可被接受为止。如申请专利范围第17项之方法，其中该模拟包括：获得该等形成装置的刺激/反应数据；使用该公式组由该刺激/反应数据来获取模型参数值；及将所获取的模型参数值代入该公式组中来造成运作模型。如申请专利范围第17项之方法，其中：该制法系以具有个别范围的制程参数为特征；且该等形成装置系使用该等具有在个别范围中不同数值的制程参数之制法来制成的装置。如申请专利范围第17项之方法，其中：该制法系以具有个别范围的制程参数为特征；且该等形成装置系界定为负责该等制程参数范围的模拟装置。如申请专利范围第13项之方法，其中该指定步骤包括：选择初始刺激波形；决定一由该初始刺激波形所界定的刺激因子是否能够以可接受的效率产生用以获取该等模型参数值之刺激/反应数据；当该效率不可接受时，则修正该等刺激波形的选择；及重复该决定步骤和修正步骤，直到其效率为可被接受为止。如申请专利范围第13项之方法，其中该基本函数包含一非线性公式。如申请专利范围第13项之方法，其中该基本函数具有少于100个模型参数。一种以模型为基础测试产品装置与一装置设计之性能规格的一致性之方法，该等产品装置系依据该装置设计而以一制法来制成，该方法包含：接收一用来测试该等产品装置的测试方案，该方案包含一依据该装置设计和性能规格的简单模型，该模型包含一基本函数和供用于该基本函数的模型参数；及一用来测试该等产品装置的刺激因子规格；该等模型参数系取决于制法且在该产品装置间的值系不相同；及依据该测试方案来测试各产品装置；该测试包括：测量该产品装置对该刺激因子的反应；使用该模型而由所测出的反应和该刺激因子来获取供用于该产品装置的模型参数值；及使用该等模型参数值来检核该产品装置与性能规格的一致性；以及根据该一致性测试将该等产品装置分类成好的或坏的。如申请专利范围第25项之方法，其中：该测试更包含由所获取的模型参数值来投射供用于该产品装置的性能量值；且该检核步骤乃包含检核该等性能量值与各别性能规格的一致性。如申请专利范围第26项之方法，其中该投射步骤乃包括：将所获取之供用于该产品装置的模型参数值代入该模型来形成该产品装置之一运作模型；及使用该运作模型来投射该性能量值。如申请专利范围第27项之方法，其中该投射乃包括：施加一习用的刺激因子于该运作模型；及判定该运作模型对该习用刺激因子的反应来获得一性能量值。如申请专利范围第28项之方法，其中：该习用的刺激因子会被模拟；且该判定步骤乃包括算出该运作模型对该模拟刺激因子的反应而来提供一性能量值。如申请专利范围第26项之方法，其中：该测试方案更包含用以由所获取的模型参数值来投射该产品装置之性能量值的投射函数；且该投射步骤包括使用该等投射函数来投射供用于该产品装置的性能量值。如申请专利范围第26项之方法，其中：该测量步骤系使用一自动测试机来进行；且该投射系在该自动测试机的外部来进行。如申请专利范围第26项之方法，其中该测量步骤和投射步骤系使用一自动测试机来进行。如申请专利范围第25项之方法，其中：该测试方案更包含该装置设计的经转化成一模型参数态样之性能规格；且该检核步骤乃包括检核所获取的模型参数值与被转化成模型参数态样的性能规格之一致性。如申请专利范围第25项之方法，其中，当在测量时，不多于一个的刺激因子会被施加于该产品装置。如申请专利范围第25项之方法，其中该测试系使用一自动测试机来进行。如申请专利范围第25项之方法，其中：该测试系使用一自动测试机来进行；且该获取动作系在该自动测试机的外部来进行。如申请专利范围第25项之方法，其中该测试步骤与获取步骤系使用一自动测试机来进行。