发明名称 检查系统和检查方法
摘要 本发明提供了一种检查系统,该系统包括:CT装置,该CT装置包括:滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连接在滑环上的探测装置;以及传送被检查物体的传送装置,其中所述探测装置包括N排探测器,并且相邻两排所述检测器之间具有预定的间隔,其中N为大于1的整数。采用本发明的检查系统,实现了CT装置的高速扫描成像,使CT装置和用于获得二维图像的扫描成像装置同时使用成为可能,从而弥补了互相之间的不足。
申请公布号 CN101424648B 申请公布日期 2012.10.03
申请号 CN200710176528.4 申请日期 2007.10.30
申请人 清华大学;同方威视技术股份有限公司 发明人 张丽;陈志强;胡海峰;李元景;刘以农;孙尚民;张文宇;邢宇翔
分类号 G01N23/04(2006.01)I;G01V5/00(2006.01)I 主分类号 G01N23/04(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 张成新
主权项 一种检查系统,该系统包括:CT装置,该CT装置包括:滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连接在滑环上的探测装置;以及传送被检查物体的传送装置,其中所述探测装置包括N排探测器,并且相邻两排所述探测器之间具有预定间距,其中N为大于1的整数,在滑环每旋转360度的检查区域中,每排探测器检查该区域的360度/N的扇形部分,同时滑环每旋转360度/N,传送装置将物体移动的距离为相邻两排探测器的中心距,所述检查系统还包括用于获得二维图像的扫描成像装置,所述CT装置和用于获得二维图像的扫描成像装置能够同时运行,以同时通过CT装置获得被检查物体的三维图像和通过用于获得二维图像的扫描成像装置获得二维图像,其中所述CT装置和用于获得二维图像的扫描成像装置同时运行的速度为0.18‑0.25m/s。
地址 100084 北京市海淀区清华大学