| 主权项 |
一种平面显示模组之测试系统，包含：一平面显示模组；一测试影像产生电路，系产生一测试影像，其中该平面显示模组系由至少一时脉讯号所驱动以显示该测试影像；一影像感测单元，系感测该平面显示模组所显示之该测试影像以产生一撷取影像；一相位调整电路，系与该影像感测单元电性连接以接收该撷取影像，并记录该撷取影像与该测试影像之一影像差异，且产生一相位调整讯号；一时序控制电路，系接收该相位调整讯号，并依据该相位调整讯号调整该时脉讯号之相位；一伽玛校正电路，系电性连接该测试影像产生电路以校正该测试影像；以及一源极驱动电路，系电性连接该伽玛校正电路以接收经校正之该测试影像，并依据该测试影像产生一资料讯号，其中该平面显示模组系接收该资料讯号以显示该测试影像。如申请专利范围第1项所述之测试系统，其中该相位调整电路系逐次调整以输出该相位调整讯号，该时序控制电路系逐次依据经调整之该相位调整讯号调整该时脉讯号之相位，该平面显示模组系由经调整之该时脉讯号所驱动以显示该测试影像，该影像感测单元系逐次感测该平面显示模组所显示之该测试影像以产生不同内容之该撷取影像，该相位调整电路系逐次记录该撷取影像与该测试影像之该影像差异，并从该等影像差异中选择差异最小者所对应之该相位调整讯号作为一最佳值。如申请专利范围第2项所述之测试系统，更包含：一暂存器，系储存该相位调整电路所调整之该相位调整讯号。如申请专利范围第2项所述之测试系统，更包含：一记忆单元，系储存该最佳值，其中该时序控制电路系于初始化时读取该最佳值以调整该时脉讯号之相位。如申请专利范围第1项所述之测试系统，其中该时序控制电路、该测试影像产生电路、该源极驱动电路及该伽玛校正电路系实现于一积体电路中。如申请专利范围第1项所述之测试系统，其中该时序控制电路系依据该相位调整讯号调整一起始脉冲讯号之相位。如申请专利范围第1项所述之测试系统，其中该相位调整电路系实现于一计算装置。如申请专利范围第1项所述之测试系统，其中该撷取影像系包含该测试影像之一亮度及/或色度资讯。如申请专利范围第8项所述之测试系统，其中该相位调整电路系记录该测试影像与该撷取影像之亮度及/或色度资讯间之影像差异。如申请专利范围第1项所述之测试系统，其中该测试影像系包含一周期性图案。如申请专利范围第10项所述之测试系统，其中该周期性图案系包含二种不同颜色之条纹。如申请专利范围第1项所述之测试系统，其中该时序控制电路以及该相位调整电路系实现于一积体电路中。如申请专利范围第1项所述之测试系统，其中该平面显示模组系包含一主动矩阵面板。如申请专利范围第13项所述之测试系统，其中该主动矩阵面板系一液晶显示面板或一有机发光二极体面板。一种平面显示模组之测试方法，包含：一测试影像产生程序，系产生一测试影像至该平面显示模组；一设定调整程序，系产生一相位调整讯号；一相位调整程序，依据该相位调整讯号调整一时脉讯号之相位，其中该平面显示模组系由该时脉讯号所驱动以显示该测试影像；一影像感测程序，系感测该平面显示模组所显示之该测试影像以产生一撷取影像；一差异记录程序，系记录该撷取影像与该测试影像之一影像差异；再次执行该设定调整程序、该相位调整程、该影像感测程序及该差异记录程序以得到复数个影像差异；以及一最佳化程序，系从该等影像差异中判断出差异最小者，并选取差异最小者所对应之该相位调整讯号作为一最佳值。如申请专利范围第15项所述之测试方法，更包含：一记忆程序，系储存该最佳值，其中该时序控制电路系于初始化时读取该最佳值以调整该时脉讯号之相位。如申请专利范围第15项所述之测试方法，更包含：一源极驱动程序，系依据该测试影像产生一资料讯号，其中该平面显示模组系接收该资料讯号以显示该测试影像。如申请专利范围第15项所述之测试方法，其中该相位调整程序系依据该相位调整讯号调整一起始脉冲讯号之相位。如申请专利范围第15项所述之测试方法，其中该影像讯号系包含该测试影像之一亮度及/或色度资讯。如申请专利范围第19项所述之测试方法，其中该差异记录程序系记录该测试画面与该撷取影像之亮度及/或色度资讯间之影像差异。如申请专利范围第15项所述之测试方法，其中该测试影像系包含一周期性图案。如申请专利范围第21项所述之测试方法，其中该周期性图案系包含二种不同颜色之条纹。 |
