发明名称 一种对离子导电体的双电量测量方法及应用
摘要 本发明涉及一种对离子导电体的双电量测量方法及应用,双电量测量方法是采用与电压相同的方波相敏检波获取有功电流Ir,采用与电压超前90°的方波相敏检波获取无功电流Ix,然后根据电学公式计算获取电阻率ρ和离子电容率ε;双电量应用方法是首先利用本发明的公式计算离子电容率相对于电阻率的相对变化关系M值,再根据M值的变化识别地下各种不同的矿藏。本发明的有益效果及优点是:能够提高离子导电体定性和定量分析的能力;能够提高地下水资源、导电金属矿物和油气的勘探成效。
申请公布号 CN102692652A 申请公布日期 2012.09.26
申请号 CN201210190998.7 申请日期 2012.06.12
申请人 西南石油大学 发明人 刘红岐;邱春宁
分类号 G01V3/06(2006.01)I 主分类号 G01V3/06(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 1.一种对离子导电体的双电量测量方法,其特征在于:向被测量的离子导电体<b>A、B</b>两点之间供给小于10<b>KHz</b>频率的交变电流,电流流经离子导电体后,形成电压<b>V</b>、模电流<b>Iz</b>、相位<b>θ、</b>有功电流<b>Ir</b>、无功电流<b>Ix</b>待测信息;按照常规方法采集电压信息和模电流(3);采用与电压相位一致的方波(2)以相敏检波获取有功电流<b>Ir</b>,或采用公式<b>Ir=Iz×cosθ</b>获取有功电流<b>Ir;</b>采用比电压相位超前<b>90°</b>的方波(3)以相敏检波获取无功电流<b>Ix,</b>或采用公式<b>Ix=Iz×sinθ</b>获取无功电流;采用电学公式<b>R=V/Ir</b>计算获取电阻<b>R</b>,采用电学公式<b>Xc=V/Ix</b>获取容抗<b>Xc</b>,采用电学公式<b>C=1/(2πFXc)</b>获得电容<b>C</b>;采用电学公式<b>ρ=Kr×R</b>计算获取电阻率<b>ρ</b>,公式中<b>ρ</b>为电阻率,<b>R</b>为实测电阻,<b>Kr</b>为电极系数,<b>Kr</b>的单位,<b>m</b>;采用新创公式<b>=Kc×C</b>获得离子电容率<b></b>,公式中<b>C</b>为实测电容,<b></b>为离子电容率,离子电容率的量纲=法拉/米,<b>F/m</b>,<b>Kc</b>为电极系数,<b>Kc</b>的单位,<b>1/m</b>。
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