发明名称 晶圆破片边缘的米字搜寻方法
摘要 本发明为一种晶圆破片边缘的米字搜寻方法,用于搜寻一晶圆的破裂边缘,该晶圆具有多个垂直相交的第一激光切割线与第二激光切割线,该第一激光切割线与该第二激光切割线于晶圆上区隔出多个晶粒,其包含步骤A~F,步骤A主要是选择搜寻方向;步骤B为选择该多个晶粒中的一个;步骤C为撷取单一晶粒影像;步骤D为判定该晶粒的影像是否为完整晶粒;步骤E为若该晶粒的影像为完整晶粒,则沿该搜寻方向移动,选择下一位置的晶粒并重复步骤C,步骤F为若该晶粒的影像非为完整晶粒,则结束并标定此处位置。据此本发明可精准标定出该晶圆上最边缘位置的完整晶粒,并自动计算沿搜寻方向移动的次数,使使用者预先得知需要劈裂的刀数,方便进行劈裂作业。
申请公布号 CN102689366A 申请公布日期 2012.09.26
申请号 CN201110070975.8 申请日期 2011.03.23
申请人 正恩科技有限公司 发明人 陈孟端
分类号 B28D5/00(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I 主分类号 B28D5/00(2006.01)I
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人 余刚;吴孟秋
主权项 一种晶圆破片边缘的米字搜寻方法,用于搜寻一晶圆(20)的破裂边缘,所述晶圆(20)具有多个垂直相交的第一激光切割线(31)与第二激光切割线(32),所述第一激光切割线(31)与所述第二激光切割线(32)于所述晶圆(20)上区隔出多个晶粒(40),其特征在于,所述方法包含:步骤A:选择平行于所述第一激光切割线(31)与所述第二激光切割线(32)的任一个的移动方向为一搜寻方向;步骤B:选择所述多个晶粒(40)的其中一个;步骤C:撷取单一晶粒(40)影像;步骤D:判定所述晶粒(40)的影像是否为完整晶粒;步骤E:若所述晶粒(40)的影像为完整晶粒,则沿所述搜寻方向移动,选择下一位置的所述晶粒(40)并重新进行步骤C;步骤F:若所述晶粒(40)的影像非为完整晶粒,则结束并标定此处位置。
地址 中国台湾台北市