发明名称 | 干法刻蚀方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种适用于通孔或沟槽制备的干法刻蚀方法,包括:进行第一次多步淀积刻蚀交替循环干法刻蚀工艺,在硅衬底内刻蚀出第一沟槽;接着采用第一次淀积聚合物工艺,在第一沟槽内壁淀积聚合物;而后对聚合物进行干法刻蚀,直至去除第一沟槽底部的聚合物;进行第二次多步淀积刻蚀交替循环干法刻蚀工艺,在第一沟槽内进一步刻蚀硅衬底形成通孔或沟槽。采用本发明的方法,制备出开口逐渐变小的阶梯式沟槽形貌,提高后续金属填充沟槽的能力。 | ||
申请公布号 | CN102693911A | 申请公布日期 | 2012.09.26 |
申请号 | CN201110070085.7 | 申请日期 | 2011.03.23 |
申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 吴智勇;邱华军 |
分类号 | H01L21/3213(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/3213(2006.01)I |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人 | 丁纪铁 |
主权项 | 一种干法刻蚀方法,适用于通孔或沟槽的制备,其特征在于,包括:步骤一,进行第一次多步淀积刻蚀交替循环干法刻蚀工艺,在所述硅衬底内刻蚀出第一沟槽;步骤二,接着采用第一次淀积聚合物工艺,在所述第一沟槽内壁上淀积聚合物;步骤三,而后进行第一次干法刻蚀聚合物,去除所述第一沟槽底部的聚合物;步骤四,进行第二次多步淀积刻蚀交替循环干法刻蚀工艺,在所述第一沟槽内进一步刻蚀所述硅衬底形成阶梯状通孔或沟槽。 | ||
地址 | 201206 上海市浦东新区川桥路1188号 |