发明名称 干法刻蚀方法
摘要 本发明公开了一种适用于通孔或沟槽制备的干法刻蚀方法,包括:进行第一次多步淀积刻蚀交替循环干法刻蚀工艺,在硅衬底内刻蚀出第一沟槽;接着采用第一次淀积聚合物工艺,在第一沟槽内壁淀积聚合物;而后对聚合物进行干法刻蚀,直至去除第一沟槽底部的聚合物;进行第二次多步淀积刻蚀交替循环干法刻蚀工艺,在第一沟槽内进一步刻蚀硅衬底形成通孔或沟槽。采用本发明的方法,制备出开口逐渐变小的阶梯式沟槽形貌,提高后续金属填充沟槽的能力。
申请公布号 CN102693911A 申请公布日期 2012.09.26
申请号 CN201110070085.7 申请日期 2011.03.23
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 吴智勇;邱华军
分类号 H01L21/3213(2006.01)I 主分类号 H01L21/3213(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 丁纪铁
主权项 一种干法刻蚀方法,适用于通孔或沟槽的制备,其特征在于,包括:步骤一,进行第一次多步淀积刻蚀交替循环干法刻蚀工艺,在所述硅衬底内刻蚀出第一沟槽;步骤二,接着采用第一次淀积聚合物工艺,在所述第一沟槽内壁上淀积聚合物;步骤三,而后进行第一次干法刻蚀聚合物,去除所述第一沟槽底部的聚合物;步骤四,进行第二次多步淀积刻蚀交替循环干法刻蚀工艺,在所述第一沟槽内进一步刻蚀所述硅衬底形成阶梯状通孔或沟槽。
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