| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kalibrierung eines mittels Transmissions- und/oder Reflektionsmessung arbeitenden und zur Flächengewichtsmessung oder Dickenmessung einer Materialbahn (100) eingesetzten Sensors (8, 10), wobei das Verfahren die Schritte aufweist: Bereitstellen eines flächigen Kalibrierungsmusters (18) mit bekanntem Flächengewicht; Erfassen der Transmissions- und/oder Reflektionswerte des Kalibrierungsmusters (18) mittels des Sensors (8, 10) an einer Vielzahl von verschiedenen, über die Fläche des Kalibrierungsmusters verteilten Positionen; und Ermitteln des Kalibrierungswerts für den Sensor (8, 10) durch Mittelwertbildung aus der Vielzahl von erfassten Transmissions- und/oder Reflektionswerten und Verknüpfung des Mittelwerts der Transmission und/oder Reflektion mit dem bekannten Flächengewicht des Kalibrierungsmusters (18). Daneben betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Schichtdicken- und/oder Flächengewichtmessung bei einer Materialbahn unter Verwendung des Kalibrierverfahrens, sowie eine Vorrichtung zur Schichtdicken- und/oder Flächengewichtmessung.</p> |
