| 发明名称 | 存储器件及其测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种存储器件，包括：第一存储体、第二存储体、多个接口焊盘和数据输出单元，数据输出单元被配置成经由所述多个接口焊盘之中的至少一个接口焊盘输出第一存储体的压缩数据，且随后经由所述一个接口焊盘输出第二存储体的压缩数据。 | ||
| 申请公布号 | CN102682856A | 申请公布日期 | 2012.09.19 |
| 申请号 | CN201110434860.2 | 申请日期 | 2011.12.22 |
| 申请人 | 海力士半导体有限公司 | 发明人 | 李康悦 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/56(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人 | 郭放;许伟群 |
| 主权项 | 一种存储器件，包括：第一存储体；第二存储体；多个接口焊盘；以及数据输出单元，所述数据输出单元被配置成经由所述多个接口焊盘之中的一个接口焊盘输出所述第一存储体的压缩数据，且随后经由所述一个接口焊盘输出所述第二存储体的压缩数据。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||