发明名称 | 对测量目标进行测量的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种对测量目标进行测量的方法。为了对PCB上的测量目标进行测量,利用将光栅图案光照射到PCB上而拍摄的第一图像来获取PCB的三维高度信息。然后,利用高度信息将高度比基准高度大而在PCB上突出的第一区域确定为测量目标。然后,利用将光照射到PCB上而拍摄的第二图像来获取PCB的颜色信息。然后,将PCB的颜色信息之中的被确定为测量目标的第一区域的第一颜色信息设定为基准颜色信息。然后,将基准颜色信息与除第一区域之外的区域的颜色信息进行比较,以判定测量目标是否形成在除第一区域之外的区域中。因此,可以精确地对测量目标进行测量。 | ||
申请公布号 | CN102654466A | 申请公布日期 | 2012.09.05 |
申请号 | CN201210099942.0 | 申请日期 | 2010.05.13 |
申请人 | 株式会社高永科技 | 发明人 | 郑仲基;金珉永;柳希昱 |
分类号 | G01N21/956(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/956(2006.01)I |
代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人 | 韩明星;刘奕晴 |
主权项 | 一种测量焊料区域的方法,所述方法包括以下步骤:将多个彩色照明照射到印刷电路板上来获取多个彩色图像;利用所获取的彩色图像来生成饱和度图;利用饱和度图来提取焊料区域。 | ||
地址 | 韩国首尔 |