发明名称 |
电子元件运搬装置、电子元件测试装置以及电子元件之测试方法 |
摘要 |
课题:提供电子元件运搬装置,其在接触臂数量增加的情况下,能够达成小型化及产量的提升。解决手段:运搬装置100,其系包括分别具有固持DUT10的固持部380且沿着第1方向配列的复数个接触臂300,上述各个接触臂300具有使该固持部380相对于该接触臂300的基部310相对移动的调整单元330;运搬装置100包括:能够拍摄DUT10及固持部380的拍摄单元220;操作该调整单元330的操作单元230;使得拍摄单元220和操作单元230沿着X方向移动的移动单元210;该调整单元330,按照该操作单元230的操作,调整该固持部380的相对位置。 |
申请公布号 |
TW201425182 |
申请公布日期 |
2014.07.01 |
申请号 |
TW102130414 |
申请日期 |
2013.08.26 |
申请人 |
阿德潘铁斯特股份有限公司 |
发明人 |
菊池有朋 |
分类号 |
B65G43/08(2006.01);B65G47/88(2006.01);B65G49/07(2006.01) |
主分类号 |
B65G43/08(2006.01) |
代理机构 |
|
代理人 |
洪澄文 |
主权项 |
|
地址 |
ADVANTEST CORPORATION 日本 |