发明名称 | 芯片测试打点机 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种芯片测试打点机,包括打点标记针、芯片承载运动平台、测试探针和用于固定测试探针的固定架,所述打点标记针包括第一打点标记针和第二打点标记针,所述测试探针包括与第一打点标记针配合的第一测试探针和与第二打点标记针配合的第二测试探针,第一测试探针和第二测试探针位于第一打点标记针和第二打点标记针之间,第一打点标记针和第一测试探针之间的距离为一个芯片的长度,第二打点标记针和第二测试探针之间的距离为一个芯片的长度。本实用新型的主要目的在于提高设备的工作效率,减小设备占用的空间。 | ||
申请公布号 | CN202384304U | 申请公布日期 | 2012.08.15 |
申请号 | CN201120562638.6 | 申请日期 | 2011.12.29 |
申请人 | 乐山嘉洋科技发展有限公司 | 发明人 | 邓华鲜;孙晓家 |
分类号 | H01L21/66(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人 | 毛光军 |
主权项 | 一种芯片测试打点机,包括打点标记针、芯片承载运动平台(1)、测试探针和用于固定测试探针的固定架(2),其特征在于:所述打点标记针包括第一打点标记针(3)和第二打点标记针(4),所述测试探针包括与第一打点标记针(3)配合的第一测试探针(5)和与第二打点标记针(4)配合的第二测试探针(6),第一测试探针(5)和第二测试探针(6)位于第一打点标记针(3)和第二打点标记针(4)之间,第一打点标记针(3)和第一测试探针(5)之间的距离为一个芯片的长度,第二打点标记针(4)和第二测试探针(6)之间的距离为一个芯片的长度。 | ||
地址 | 614000 四川省乐山市高新区建业大道2号 |