| 摘要 |
Vorrichtung (10) zum Testen von elektronischen Bauteilen (30) mit mindestens einer eingebetteten, metallhaltigen Schicht (32), insbesondere von mehrlagigen Keramikkondensatoren, die Vorrichtung (10) mit einem elektromagnetisch-akustischen Wandler (12), der eine Impulserzeugungseinheit (14) aufweist, die dafür ausgebildet ist, mindestens einen elektromagnetischen Impuls (IMP) innerhalb eines zu testenden Bauteils (30) zu erzeugen, so dass innerhalb des Bauteils (30) Schwingungen erzeugt werden, die ein elektromagnetisches Signal (RES) als Antwort auf den elektromagnetischen Impuls (IMP) erzeugen, eine Empfangseinheit (16) aufweist, die dafür ausgebildet ist, das elektromagnetische Signal (RES) zu empfangen, und eine Auswerteeinheit (18) aufweist, die dafür ausgebildet ist, das elektromagnetische Signal (RES) zumindest bzgl. einer Amplitude oder Amplitudenänderung des Signals (RES) zu mindestens einem Zeitpunkt auszuwerten, wobei die Vorrichtung (10) ferner eine Bewertungseinheit (20) aufweist, die dafür ausgebildet ist, mindestens eine von der Auswerteeinheit (18) ermittelte Amplitude bzw. Amplitudenänderung des Signals (RES) mit mindestens einem Schwellwert (TH) zu vergleichen und in Abhängigkeit von dem Vergleich ein erstes Ausgangssignal (SIG1) zu erzeugen, das anzeigt, dass das zu testende Bauteil (30) als funktionstüchtig anzusehen ist oder ein zweites Ausgangssignal (SIG2) zu erzeugen, das anzeigt, dass das zu testende Bauteil (30) als defekt anzusehen ist. Ferner werden ein entsprechendes Verfahren und eine Verwendung eines elektromagnetisch-akustischen Wandlers (12) offenbart.
|
