发明名称 一种老化测试板及制作该板的方法
摘要 本发明提供一种老化测试板,包括印刷电路板和集成电路,所述集成电路板焊接在印刷电路板的上表面,所述印刷电路板下表面设有植锡球,所述植锡球阵列排序分布在印刷电路板的下表面,所述集成电路的尺寸小于印刷电路板。本发明提供的老化测试板可以使得IC引脚重新排布,解决了通用老化板和专用老化板的固有缺点,在可以测试不同参数BGA封装产品的同时,又可以增加测试板上IC的数量,从而既可以重复利用测试板本,又可以增加测试效率。
申请公布号 CN102621466A 申请公布日期 2012.08.01
申请号 CN201210077742.5 申请日期 2012.03.22
申请人 上海华力微电子有限公司 发明人 钱燕妮
分类号 G01R31/26(2006.01)I 主分类号 G01R31/26(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 王敏杰
主权项 一种老化测试板,包括印刷电路板和集成电路,其特征在于,所述集成电路板焊接在印刷电路板的上表面,所述印刷电路板下表面设有植锡球,所述植锡球阵列排序分布在印刷电路板的下表面,所述集成电路的尺寸小于印刷电路板。
地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号