发明名称 |
一种老化测试板及制作该板的方法 |
摘要 |
本发明提供一种老化测试板,包括印刷电路板和集成电路,所述集成电路板焊接在印刷电路板的上表面,所述印刷电路板下表面设有植锡球,所述植锡球阵列排序分布在印刷电路板的下表面,所述集成电路的尺寸小于印刷电路板。本发明提供的老化测试板可以使得IC引脚重新排布,解决了通用老化板和专用老化板的固有缺点,在可以测试不同参数BGA封装产品的同时,又可以增加测试板上IC的数量,从而既可以重复利用测试板本,又可以增加测试效率。 |
申请公布号 |
CN102621466A |
申请公布日期 |
2012.08.01 |
申请号 |
CN201210077742.5 |
申请日期 |
2012.03.22 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
钱燕妮 |
分类号 |
G01R31/26(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
王敏杰 |
主权项 |
一种老化测试板,包括印刷电路板和集成电路,其特征在于,所述集成电路板焊接在印刷电路板的上表面,所述印刷电路板下表面设有植锡球,所述植锡球阵列排序分布在印刷电路板的下表面,所述集成电路的尺寸小于印刷电路板。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |