一种电路诊断策略与测试配置信息综合模拟评估方法

摘要

本发明公开了一种电路诊断策略与测试配置信息综合模拟评估方法，属于测试性技术领域，具体包括6个步骤，步骤一，对诊断策略进行测试配置；步骤二，建立电路的测试原始数据；步骤三，建立电路的测试逻辑数据；步骤四，模拟运行诊断策略得到诊断结论；步骤五，诊断能力评估；步骤六，缺陷分析。本发明通过建立电路正常和故障状态下的测试原始数据结构、测试逻辑数据结构和诊断结论数据结构，利用测试配置信息将测试原始数据转换为测试逻辑数据，利用诊断策略的模拟运行得到状态的诊断结论，以状态对比为基础判断诊断的正确性。

主权项

1.一种电路诊断策略与测试配置信息综合模拟评估方法，其特征在于，包括以下几个步骤：步骤一：对诊断策略进行测试配置具体如下：(1)确定诊断策略的测试集合测试集合是指诊断策略包含的所有测试组成的集合，集合中的每个测试采用各测试名称表示；(2)确定测试配置信息测试配置信息的元组模型如下：M_TC＝(N，Y，H)                (1)式中：M_TC表示测试配置信息的元组模型；N表示测试集合，N＝{n_j|j＝1～k}，n_j是测试集合中第j个测试的名称，k为测试的数量；Y表示测试信号类型集合，Y＝{y_j|j＝1～k}，y_j是测试集合中第j个测试的信号类型，信号类型包括：模拟量，数字量或者应答信号；H表示测试门限集合，H＝{h_j|j＝1～k}，h_j是测试集合中第j个测试的测试门限，对于模拟量，测试门限为[下限值，上限值]；对于数字量，测试门限为测试参考值；对于应答信号，测试门限为有应答；步骤二：建立电路的测试原始数据电路的测试原始数据结构的元组模型如下：M_D＝(C，U，FM，D)          (2)式中：M_D表示电路的测试原始数据结构的元组模型；C表示状态集合，C＝{c_i|i＝1～m}，c_i代表第i组测试原始数据对应的电路状态，电路状态分为正常、故障两种，m为数据的组数；U表示故障模块集合，U＝{u_i|i＝1～m}，u_i是第i组测试原始数据对应的规定隔离级别的故障模块，在电路状态为正常时，故障模块为空值；在电路状态为故障时，故障模块为发生故障的一个或多个故障模块；FM表示故障模式集合，FM＝{fm_i|i＝1～m}，fm_i是第i组数据对应的故障模式，电路状态为正常时，故障模式为空值；在电路状态为故障时，故障模式为发生的一个或多个故障模式；D表示测试原始数据集合，D＝{d_ij|i＝1～m，j＝1～k}，d_ij是第i组测试原始数据中第j个测试的测试原始数据；步骤三：建立电路的测试逻辑数据 电路测试逻辑数据结构的元组模型如下：M_DL＝(C，U，FM，D′)                 (3)式中：M_DL表示电路测试逻辑数据；D′表示测试逻辑数据集合，D′＝{d′_ij|i＝1～m，j＝1～k}，d′_ij是第i组数据中第j个测试的逻辑数据，逻辑数据值为0或1，0代表测试通过，1代表测试不通过；步骤四：模拟运行诊断策略得到诊断结论诊断结论元组模型如下：M_R＝(C，U，DC，DU)                   (4)式中：M_R表示诊断结论元组模型；DC表示状态检测结果集合，DC＝{dc_i|i＝1～m}，dc_i是第i组数据经过诊断模拟后得出的状态检测结果，状态检测结果分为正常、故障两种；DU表示故障隔离结果集合，DU＝{du_i|i＝1～m}，du_i是第i组数据经过诊断模拟后得出的故障隔离结果；在状态检测结果为正常时，故障隔离结果为空值；在状态检测结果为故障时，故障隔离结果为由诊断模拟得出的发生故障的一个或多个故障模块；步骤五：诊断能力评估具体步骤如下：I：故障检测率的计算故障检测率的计算公式如下：式中：FDR表示故障检测率；N_F表示诊断结论的各数据组中，状态为故障的数据组数量；N_FD表示诊断结论的各数据组中，状态及状态检测结果都为故障的数据组数量；II：故障隔离率的计算故障隔离率的计算公式如下：式中：FIR表示故障隔离率；N_FI表示诊断结论的各数据组中，状态及状态检测结果都为故障，且故障模块与故障隔离结果相同的数据组数量；III：虚警率的计算虚警率的计算公式如下：式中：FAR表示虚警率；N_FS表示诊断结论的各数据组中，状态检测结果为故障的数据组数量；步骤六：缺陷分析具体过程如下：1>若故障检测率低于要求，则存在故障检测设计缺陷；2>若故障隔离率低于要求，则存在故障隔离缺陷；3>若虚警率高于要求，则存在防虚警设计缺陷；根据发现的设计缺陷，进行诊断策略和测试配置信息的调整。