发明名称 半导体侦光元件及其制造方法
摘要 【课题】本发明的目的系发挥绝缘膜作为低反射膜所要的功能,并提供抑制暗电流的半导体侦光元件及其制造方法。;【解决手段】包括绝缘膜形成步骤,在半导体上形成绝缘膜;以及电极形成步骤,在上述半导体应除去接触窗之处形成电极。上述电极形成步骤后,包括绝缘膜保护用光阻形成步骤,在上述绝缘膜上形成光阻。;包括供电层形成步骤,在上述光阻及上述电极上,形成金属的供电层;电镀形成步骤,上述供电层形成步骤后,在相接上述电极的上述供电层上进行电镀形成;以及供电层蚀刻步骤,上述电镀形成步骤后,留下应成为上述电极的部分,蚀刻上述供电层。;更包括绝缘膜保护用光阻除去步骤,在上述供电层蚀刻步骤后,除去上述光阻。
申请公布号 TWI368946 申请公布日期 2012.07.21
申请号 TW097106584 申请日期 2008.02.26
申请人 三菱电机股份有限公司 日本 发明人 菊地真人武;中岛康雄;中岛美幸;佐久间仁
分类号 H01L21/328;H01L31/105 主分类号 H01L21/328
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项
地址 日本