发明名称 |
一种多层金属-氮化硅-金属电容的制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种多层金属-氮化硅-金属电容的制造方法,其步骤包括:1)在硅片衬底上首先利用等离子体增强型化学气相沉积方法(PECVD)沉积高k值氮化硅薄膜;2)通过光刻和刻蚀去除非MOM区域的氮化硅;3)沉积低k值介质层;4)化学机械研磨去除多余氮化硅,形成低k值介质和氮化硅的混合层;5)完成光刻和刻蚀在低k值介质和氮化硅中形成金属槽;6)完成金属层沉积和金属层化学机械研磨后形成导线和MOM电容器的金属填充;7)重复步骤(1)至步骤(6),形成多层MOM电容器。本发明有效地提高层内电容器的电容,并能有效地改善MOM电容器的击穿电压、漏电流等各电特性,以及各器件间的电学均匀性,非常适于实用。 |
申请公布号 |
CN102592968A |
申请公布日期 |
2012.07.18 |
申请号 |
CN201110361155.4 |
申请日期 |
2011.11.15 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
毛智彪;胡友存;徐强 |
分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
王敏杰 |
主权项 |
一种多层金属‑氮化硅‑金属电容器的制作方法,其特征在于:其具有以下步骤:1)在硅片衬底上首先利用等离子体增强型化学气相沉积方法(PECVD)沉积高k值氮化硅薄膜;2)通过光刻和刻蚀去除非MOM区域的氮化硅;3)沉积低k值介质层;4)化学机械研磨去除多余氮化硅,形成低k值介质和氮化硅的混合层;5)完成光刻和刻蚀在低k值介质和氮化硅中形成金属槽;6)完成金属层沉积和金属层化学机械研磨后形成导线和MOM电容器的金属填充;7)重复步骤(1)至步骤(6),形成多层MOM电容器。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |