| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der Strahldichte einer Strahlungsquelle in zumindest einem ersten Wellenlängenbereich, bei dem die absolute spektral integrierte Strahldichte in einem zweiten Wellenlängenbereich gemessen wird, der Art der Strahlungsquelle zumindest ein Korrekturfaktor zugeordnet wird, mit dem die absolute spektral integrierte Strahldichte im zweiten Wellenlängenbereich korrigiert wird, so dass der korrigierte Wert der absoluten spektral integrierten Strahldichte im zweiten Wellenlängenbereich der zumindest einen Strahldichte im ersten Wellenlängenbereich entspricht. Die Erfindung betrifft auch eine Vorrichtung zum Bestimmen der Strahldichte einer Strahlungsquelle in zumindest einem ersten Wellenlängenbereich mit einem solchen Verfahren, wobei die Vorrichtung einen Detektor umfasst, der die absolute spektral integrierte Strahldichte in einem zweiten Wellenlängenbereich misst, eine Speichereinheit umfasst, in dem zumindest ein Korrekturfaktor gespeichert ist, eine Recheneinheit umfasst, mit der aus der absoluten spektral integrierten Strahldichte im zweiten Wellenlängenbereich die Strahldichte der Strahlungsquelle in dem zumindest einen ersten Wellenlängenbereich mit dem Korrekturfaktor berechenbar ist, und eine Ausgabeeinrichtung umfasst, über die das Ergebnis der Berechnung ausgebbar und/oder anzeigbar ist.</p> |
