发明名称 |
混合信号芯片中测试模拟电路的装置和方法 |
摘要 |
本发明公开一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置和方法,能够彻底避免测试过程中数字电路对模拟电路的干扰,得到准确的测试结果。本发明实施例提供的混合信号芯片中测试模拟电路的装置包括:电源管理单元,用于在测试开始时,切断混合信号芯片中数字电路的电源;配置单元,用于在电源管理单元切断数字电路的电源后,从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息;测试单元,用于在模拟电路根据所述配置信息配置成功后,通过模拟管脚对模拟电路进行测试。 |
申请公布号 |
CN102565681A |
申请公布日期 |
2012.07.11 |
申请号 |
CN201110399873.0 |
申请日期 |
2011.12.05 |
申请人 |
北京创毅视讯科技有限公司 |
发明人 |
张辉;王西强;安之平 |
分类号 |
G01R31/3163(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/3163(2006.01)I |
代理机构 |
北京市隆安律师事务所 11323 |
代理人 |
权鲜枝 |
主权项 |
一种混合信号芯片中测试模拟电路的装置,其特征在于,所述装置包括:电源管理单元,用于在测试开始时,切断混合信号芯片中数字电路的电源;配置单元,用于在电源管理单元切断数字电路的电源后,从混合信号芯片的外部向模拟电路传递配置信息;测试单元,用于在模拟电路根据所述配置信息配置成功后,通过模拟管脚对模拟电路进行测试。 |
地址 |
100084 北京市海淀区中关村东路1号清华科技园科技大厦A座8层 |