| 发明名称 |
Einrichtung zur Bestimmung des Leitfähifkeitstyps eines Halbleiterkörpers |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
CH373817(A) |
申请公布日期 |
1963.12.15 |
| 申请号 |
CH19590072327 |
申请日期 |
1959.04.21 |
| 申请人 |
SIEMENS-SCHUCKERTWERKE AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
KELLER,WOLFGANG,DR. |
| 分类号 |
G01N27/04;G01R31/26;H01L29/00 |
主分类号 |
G01N27/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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