发明名称 VERBETERDE WERKWIJZE VOOR HET ANALYSEREN VAN EEN EDELSTEEN.
摘要 Werkwijze voor het analyseren van een edelsteen, typisch voor het lokaliseren van een insluitsel in een edelsteen, omvattende: het selecteren van een vast materiaal dat transparant is in ten minste een segment van het zichbaar spectrum; het smelten of plastisch maken van het vast materiaal en het verzinken van de edelsteen in dit gesmolten of plastisch gemaakt materiaal zodanig dat de edelsteen ten minste gedeeltelijk bekleed is met dit materiaal; het hard laten worden van het gesmolten of plastisch gemaakt materiaal zodanig dat een vast transparant blok verkregen wordt dat de edelsteen bevat; het analyseren van de edelsteen doorheen een oppervlak van het vast transparant blok gebruikmakend van lichtstralen in het zichtbaar spectrum.
申请公布号 BE1019409(A5) 申请公布日期 2012.07.03
申请号 BE20100000411 申请日期 2010.07.07
申请人 OCTONUS FINLAND OY 发明人 SIVOVOLENKO SERGEY
分类号 (IPC1-7):G01N21/8 主分类号 (IPC1-7):G01N21/8
代理机构 代理人
主权项
地址