发明名称 | 智能卡测试装置和测试方法 | ||
摘要 | 本发明提供了一种智能卡测试装置和应用智能卡测试装置进行的智能卡测试方法,该装置包括主控模块、并行处理模块、智能卡应用模块和服务器应用模块,其中:所述智能卡应用模块,与所述并行处理模块相连,用于为多智能卡的读卡器提供接入接口和为所述多智能卡提供智能卡应用库;所述服务器应用模块,与所述并行处理模块相连,用于为多服务器提供接入接口和为所述多服务器提供服务器应用库;所述并行处理模块,与所述主控模块相连,用于并行处理多智能卡和多服务器的操作;所述主控模块,用于接入所述智能卡应用库和所述服务器应用库。上述智能卡测试装置和方法,支持多接口多服务器并行处理,支持同时进行多应用的智能卡,提高了测试效率。 | ||
申请公布号 | CN102495797A | 申请公布日期 | 2012.06.13 |
申请号 | CN201110382045.6 | 申请日期 | 2011.11.25 |
申请人 | 大唐微电子技术有限公司 | 发明人 | 金银军;刘洋;刘俊;闫永斌;宁振虎;徐兴亮 |
分类号 | G06F11/36(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/36(2006.01)I |
代理机构 | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人 | 栗若木;王漪 |
主权项 | 一种智能卡测试装置,其特征在于,该装置包括主控模块、并行处理模块、智能卡应用模块和服务器应用模块,其中:所述智能卡应用模块,与所述并行处理模块相连,用于为多智能卡的读卡器提供接入接口和为所述多智能卡提供智能卡应用库;所述服务器应用模块,与所述并行处理模块相连,用于为多服务器提供接入接口和为所述多服务器提供服务器应用库;所述并行处理模块,与所述主控模块相连,用于并行处理多智能卡和多服务器的操作;所述主控模块,用于接入所述智能卡应用库和所述服务器应用库。 | ||
地址 | 100094 北京市海淀区永嘉北路6号 |