发明名称 光电编码器绝对角位移测量装置
摘要 本发明涉及一种光电编码器绝对角位移测量装置,该装置包括采样时间间隔ΔT、过零判断阈值Δθth存储模块;以ΔT为间隔对光电编码器角位置数据进行采样的模块;根据相邻两次采样得到的光电编码器角位置数据计算角位移Δθ的模块;根据Δθ和Δθth的大小关系进行过零检测的模块;根据过零检测模块的检测结果进行计数的模块;根据光电编码器初始安装结束后的角位置数据和当前光电编码器的角位置数据,及过零次数计数值计算光电编码器绝对角位移的模块。本发明仅仅根据编码器的位置数据即可得到编码器的绝对角位移,不需要编码器提供零位脉冲和两路正交脉冲,也不需要设计采集相关脉冲的硬件接口,不仅节省资源,而且实现简单方便。
申请公布号 CN102494711A 申请公布日期 2012.06.13
申请号 CN201110410387.4 申请日期 2011.12.12
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 黄浦;李友一;修吉宏;李军;陈黎;汪龙祺
分类号 G01D18/00(2006.01)I 主分类号 G01D18/00(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 王淑秋
主权项 1.一种光电编码器绝对角位移测量装置,其特征在于包括:采样时间间隔ΔT、过零判断阈值Δθ<sub>th</sub>存储模块:ΔT=Δθ<sub>max</sub>/ω<sub>max</sub>,且ΔT不小于光电编码器最快数据更新周期,ω<sub>max</sub>为驱动电机最大角速度,Δθ<sub>max</sub><180°,Δθ<sub>max</sub><Δθ<sub>th</sub><360°-Δθ<sub>max</sub>;采样模块:以ΔT为间隔对光电编码器角位置数据进行采样;相邻两次采样间隔间角位移计算模块:根据相邻两次采样得到的光电编码器角位置数据<img file="FDA0000118588640000011.GIF" wi="145" he="57" />计算ΔT时间间隔内光电编码器的角位移Δθ,<img file="FDA0000118588640000012.GIF" wi="282" he="57" />过零检测模块:规定光电编码器顺时针旋转为正向旋转,比较Δθ和Δθ<sub>th</sub>的大小,若Δθ>Δθ<sub>th</sub>,则光电编码器过零,且光电编码器为反向旋转;若Δθ<-Δθ<sub>th</sub>,则光电编码器过零,且光电编码器为正向旋转;若-Δθ<sub>th</sub>≤Δθ≤Δθ<sub>th</sub>,则光电编码器未过零;计数器:根据过零检测模块的检测结果对光电编码器的旋转圈数进行计数,若光电编码器过零,且光电编码器为反向旋转,过零次数计数值Z<sub>ct</sub>减1;若光电编码器未过零,过零次数计数值Z<sub>ct</sub>不变;若光电编码器过零,且光电编码器为正向旋转,过零次数计数值Z<sub>ct</sub>加1;绝对角位移计算模块:根据光电编码器初始安装结束后的角位置数据P<sub>0</sub>和当前光电编码器的角位置数据P<sub>1</sub>,及过零次数计数值计算光电编码器的绝对角位移P,P=Z<sub>ct</sub>×360°+P<sub>0</sub>-P<sub>1</sub>。
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