测试装置以及电子元件

摘要

一种测试装置，对被测试元件进行测试，且包括：主记忆体，记忆决定测试序列的测试指令行，该测试序列用以对被测试元件进行测试；序列快取记忆体，对测试指令行进行快取；传送部，读出主记忆体中所记忆体测试指令行，并按照记述顺序将测试指令行写入至序列快取记忆体中；图案产生部，自快取于序列快取记忆体中的测试指令行中依序读出并执行指令，而且输出与所执行的指令相对应的测试图案；以及测试信号输出部，生成对应于测试图案的测试信号，并供给至被测试元件中。